[发明专利]一种布料瑕疵检测方法、装置、电子设备及存储介质在审
申请号: | 202310573096.X | 申请日: | 2023-05-22 |
公开(公告)号: | CN116309587A | 公开(公告)日: | 2023-06-23 |
发明(设计)人: | 葛铭;沈井学;魏江;洪鼎岳 | 申请(专利权)人: | 杭州百子尖科技股份有限公司 |
主分类号: | G06T7/00 | 分类号: | G06T7/00;G06T7/60;G06N3/0464 |
代理公司: | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人: | 王瑞云 |
地址: | 311121 浙江省杭州市余杭区*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 布料 瑕疵 检测 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
1.一种布料瑕疵检测方法,其特征在于,包括:
获取待检测布料图像;
将所述待检测布料图像作为输入,基于预先确定的可变形卷积神经网络模型对所述待检测布料图像进行检测,得到与所述待检测布料图像相对应的热力图、尺寸和偏移量;其中,所述偏移量包括中心偏移量和角偏移量;
根据所述热力图、尺寸和偏移量,确定所述待检测布料图像中的瑕疵区域和瑕疵类别。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,根据所述热力图、尺寸和偏移量,确定所述待检测布料图像中的瑕疵区域,包括:
根据所述热力图,确定所述待检测布料图像中的候选区域和候选区域中心点;
根据所述尺寸,确定尺寸损失;
根据所述偏移量,确定中心偏移损失和角偏移损失;
在所述候选区域叠加所述尺寸损失和/或角偏移损失,以及在所述候选区域中心点叠加所述中心偏移损失,确定所述待检测布料图像中的瑕疵区域。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,根据所述热力图,确定所述待检测布料图像中的候选区域和候选区域中心点,包括:
根据所述热力图的亮度值,确定所述待检测布料图像中的候选区域和候选区域中心点。
4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,根据所述热力图,确定所述待检测布料图像中的瑕疵类别,包括:
确定所述热力图相对应的输出通道;
基于所述输出通道,从预先确定的通道和类别关联关系中进行查找,得到与所述输出通道相关联的瑕疵类别。
5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述可变形卷积神经网络模型包括热力图输出端、尺寸输出端和偏移输出端;
相应的,将所述待检测布料图像作为输入,基于预先确定的可变形卷积神经网络模型对所述待检测布料图像进行检测,得到与所述待检测布料图像相对应的热力图、尺寸和偏移量,包括:
基于所述热力图输出端得到与所述待检测布料图像相对应的热力图;以及,基于所述尺寸输出端得到与所述待检测布料图像相对应的尺寸;以及,基于所述偏移输出端得到与所述待检测布料图像相对应的偏移量。
6.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,所述可变形卷积神经网络模型以基于残差的沙漏型网络为主干。
7.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,获取待检测布料图像,包括:
基于预先安装的拍摄设备获取布料图像;
对所述布料图像进行至少一个方格划分,得到目标布料图像;
对所述目标布料图像进行中值滤波或双边滤波,得到待检测布料图像。
8.一种布料瑕疵检测装置,其特征在于,包括:
待检测布料图像获取模块,用于获取待检测布料图像;
待检测布料图像检测模块,用于将所述待检测布料图像作为输入,基于预先确定的可变形卷积神经网络模型对所述待检测布料图像进行检测,得到与所述待检测布料图像相对应的热力图、尺寸和偏移量;其中,所述偏移量包括中心偏移量和角偏移量;
瑕疵信息确定模块,用于根据所述热力图、尺寸和偏移量,确定所述待检测布料图像中的瑕疵区域和瑕疵类别。
9.一种电子设备,其特征在于,所述电子设备包括:
至少一个处理器;以及
与所述至少一个处理器通信连接的存储器;其中,
所述存储器存储有可被所述至少一个处理器执行的计算机程序,所述计算机程序被所述至少一个处理器执行,以使所述至少一个处理器能够执行权利要求1-7中任一项所述的一种布料瑕疵检测方法。
10.一种计算机可读存储介质,其特征在于,所述计算机可读存储介质存储有计算机指令,所述计算机指令用于使处理器执行时实现权利要求1-7中任一项所述的一种布料瑕疵检测方法。
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