[发明专利]功耗测量方法

说明书

本公开是关于一种功耗测量方法，涉及半导体生产与制造技术领域，可以应用于监测半导体芯片的功耗数据的场景。该方法包括：获取电源管理集成电路连接至待监测芯片的至少一供电线路，确定串联于每个供电线路的串联采样电阻的串联电阻值；确定作用于每个串联采样电阻的电阻电压值；基于电阻电压值与串联电阻值，确定每个供电线路对应的线路电流值；根据所有供电线路的电阻电压值与线路电流值，确定待监测芯片的芯片功耗数据。本公开无需使用外部电流仪器即可对连接至待监测芯片的供电线路进行电流监测，并根据监测到的线路电流值与电阻电压值计算得到芯片功耗数据。

背景技术

功耗是衡量一款芯片优劣的重要指标之一，随着半导体工艺的发展，数字芯片的电路集成度越来越高。但是，电路集成度的提高将导致芯片的功耗急剧增加，从而影响芯片性能，因此，在芯片生产制造过程中，可以实时监测芯片的功耗数据，通过芯片功耗数据的数据波动统计芯片性能的变化规律。

在测试手机等移动设备的动态随机存取存储器（Dynamic Random AccessMemory，DRAM）功耗过程中，目前需要将DRAM使用的电源轨（power rail）上连接采样电阻，并在外部连接电流仪器进行DRAM的电流监测。

需要说明的是，在上述背景技术部分公开的信息仅用于加强对本公开的背景的理解，因此可以包括不构成对本领域普通技术人员已知的现有技术的信息。

发明内容

本公开的目的在于提供一种功耗测量方法，进而至少在一定程度上克服相关的芯片功耗测量方案需要使用外界电流仪器进行电流监测，导致功耗测量过程中使用的设备庞大且过程繁琐的问题。

本公开的其他特性和优点将通过下面的详细描述变得显然，或部分地通过本发明的实践而习得。

根据本公开的第一方面，提供一种功耗测量方法，包括：获取电源管理集成电路连接至待监测芯片的至少一供电线路，确定串联于每个所述供电线路的串联采样电阻的串联电阻值；确定作用于每个所述串联采样电阻的电阻电压值，所述电阻电压值基于所述电源管理集成电路在所述供电线路的线路供电电压值与检测点电压值确定；基于所述电阻电压值与所述串联电阻值，确定每个所述供电线路对应的线路电流值；根据所有所述供电线路的所述电阻电压值与所述线路电流值，确定所述待监测芯片的芯片功耗数据。

在本公开的一种示例性实施方案中，所述确定作用于每个所述串联采样电阻的电阻电压值，包括：获取所述电源管理集成电路作用于每个所述供电线路的线路供电电压值；确定每个所述供电线路对应的电压检测点，获取基于所述电压检测点确定的所述检测点电压值；根据所述线路供电电压值与所述检测点电压值，确定所述电阻电压值。

在本公开的一种示例性实施方案中，所述获取基于所述电压检测点确定的所述检测点电压值，包括：获取所述电源管理集成电路提供的多用途引脚接口；将所述多用途引脚接口由初始模式切换至模拟数字转换模式，得到模拟数字转换接口；基于所述模拟数字转换接口，获取所述电压检测点对应的所述检测点电压值。

在本公开的一种示例性实施方案中，所述基于所述模拟数字转换接口，获取所述电压检测点对应的所述检测点电压值，包括：获取连接至所述待监测芯片的供电线路的线路数量，基于所述线路数量配置对应数量个所述模拟数字转换接口；将所述待监测芯片切换为测试模式，在所述测试模式下基于所述模拟数字转换接口，确定所述检测点电压值。

在本公开的一种示例性实施方案中，所述供电线路包括核心电源线路、输入电源线路与输出电源线路。

在本公开的一种示例性实施方案中，所述基于所述电阻电压值与所述串联电阻值，确定每个所述供电线路对应的线路电流值，包括：基于所述电阻电压值，确定与所述供电线路匹配的模拟数字转换通道；基于所述模拟数字转换通道，将所述电阻电压值发送至数据转换输出模块；由所述数据转换输出模块，对所述电阻电压值与所述串联电阻值进行电流计算，得到所述线路电流值。