[发明专利]失效卡片筛选方法、制卡终端设备及计算机可读存储介质

说明书

本发明提供一种失效卡片筛选方法、制卡终端设备及存储介质，该失效卡片筛选方法包括：进入预个人化进程时，获取当前卡片的芯片类型信息；根据芯片类型信息向当前卡片发送预设应用的安装指令，获取安装指令的指令执行时长；若指令执行时长大于预设时长，则标记当前卡片为失效卡片。应用本发明的失效卡片筛选方法可在制卡预个人化阶段进行卡片失效的筛选，减少问题卡流转至个人化生产制程。

技术领域

本发明涉及智能卡技术领域，具体的，涉及一种失效卡片筛选方法，还涉及应用该失效卡片筛选方法的制卡终端设备，还涉及应用该失效卡片筛选方法的计算机可读存储介质。

背景技术

目前，金融IC卡生产流程涉及卡片设计、制版、印刷、层压、封装等正常物理制卡流程，制作出空白卡片，也叫半成品卡(未经初始化、预个人化和个人化制程)。制作完半成品卡后，通过APDU指令将卡片进行初始化，写入卡片操作系统(COS)、进行预个人化，写入项目预制信息制成“成品卡”卡基，最后，将使用实现根据客户需求编写的相关程序对卡片进行个人化，该个人化包括卡面个人化、芯片个人化、密钥写入及回盘等操作，完成项目个性化定制需求。个人化阶段有严格的要求，当个人化遇到失效的卡片，个人化执行中途会失败，无法完整执行个人化指令流，这种过程我们称为跳卡。跳卡后需重新制卡时，需要人工找到对应的数据，重新导入个性化数据，使用备用的卡基重新生成数据，进行个人化，需要重新人工排列卡片顺序等。如果遇到芯片级操作系统问题，会引起大批量跳卡，同时会产生较高的废品，生产产能会下降。预留的成品卡基不够补卡时，需要安排重新生产卡基，就会影响订单交付。重新生产卡片，大大浪费人力物力和生产资源，引起交期延误，造成客户投诉。

由于芯片的个体差异、擦写EEPROM能力不同而导致生产个人化程序判断超时，芯片来料异常未写入模块唯一识别号(UID)，封装过程可能造成芯片内部处理器损伤等等原因跳卡，个人化阶段无法识别跳卡的原因和问题，或者同一类型跳卡问题在不同订单反复发生，因此，在预个人化阶段完成卡片失效筛选非常必要。

发明内容

本发明的第一目的是提供一种可在制卡预个人化阶段进行卡片失效的筛选，减少问题卡流转至个人化生产制程的失效卡片筛选方法。

本发明的第二目的是提供一种可在制卡预个人化阶段进行卡片失效的筛选，减少问题卡流转至个人化生产制程的制卡终端设备。

本发明的第三目的是提供一种可在制卡预个人化阶段进行卡片失效的筛选，减少问题卡流转至个人化生产制程的计算机可读存储介质。

为了实现上述第一目的，本发明提供的失效卡片筛选方法包括：进入预个人化进程时，获取当前卡片的芯片类型信息；根据芯片类型信息向当前卡片发送预设应用的安装指令，获取安装指令的指令执行时长；若指令执行时长大于预设时长，则标记当前卡片为失效卡片。

由上述方案可知，本发明的失效卡片筛选方法通过进入预个人化进程时，通过发送预设应用的安装指令，安装指令执行过程会申请芯片的EEPROM和RAM，当这条指令的指令执行时长超时，就可以找到芯片擦写时间过长的问题芯片，从而进行卡片失效的筛选，减少问题卡流转至个人化生产制程。

进一步的方案中，预设时长根据芯片类型信息确定。

由此可知，由于不同芯片执行的预设应用的安装指令时，需要执行时长不同，因此，根据芯片类型信息确定预设时长，可提高判断的精确度。

进一步的方案中，获取当前卡片的芯片类型信息的步骤后，还包括：向当前卡片发送自我检查指令并获取当前卡片的反馈信息；根据反馈信息确认当前卡片是否异常，若是，则标记当前卡片为失效卡片。

由此可知，通过向当前卡片发送自我检查指令，使当前卡片可进行自我检查，从而判断自身是否出现异常，从而实现失效卡片的筛选。