[发明专利]一种显示屏幕检测方法及装置在审
| 申请号: | 202310422279.1 | 申请日: | 2023-04-19 |
| 公开(公告)号: | CN116468693A | 公开(公告)日: | 2023-07-21 |
| 发明(设计)人: | 魏一振;申屠晗;钟家跃;张卓鹏 | 申请(专利权)人: | 杭州光粒科技有限公司 |
| 主分类号: | G06T7/00 | 分类号: | G06T7/00;G06V10/75;G09G3/00 |
| 代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
| 地址: | 310000 浙江省杭州市西湖区西溪*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 显示 屏幕 检测 方法 装置 | ||
1.一种显示屏幕检测方法,其特征在于,包括:
获取被检测屏幕被点亮时的图像和合格屏幕被点亮时的图像;
分别从所述被检测屏幕的图像中和所述合格屏幕的图像中计算所述被检测屏幕的多个像素点对应的第一行列坐标和所述合格屏幕的多个像素点对应的第二行列坐标;
根据所述第一行列坐标和第二行列坐标计算每个像素区域的中心坐标和/或区域大小,其中,所述像素区域由多个像素点组成;并
根据所述第一行列坐标和第二行列坐标的中心坐标和/或区域大小建立所述被检测屏幕的评价公式,用于评价所述被检测屏幕是否合格。
2.根据权利要求1所述的显示屏幕检测方法,其特征在于,计算第一行列坐标和第二行列坐标包括:
将所述被检测屏幕被点亮时的图像和所述合格屏幕被点亮时的图像分别进行灰度处理、二值化处理、去噪处理得到二值化图;
选取所述二值化图中灰度值为255的像素点,得到多个所述像素点对应的第一行列坐标和第二行列坐标。
3.根据权利要求1所述的显示屏幕检测方法,其特征在于,所述根据所述第一行列坐标和第二行列坐标计算每个像素区域的中心坐标和/或区域大小包括:
根据所述第一行列坐标和所述第二行列坐标统计每个所述像素区域的行列坐标的最大最小值,确定所述被检测屏幕中每个所述像素区域的区域大小和所述合格屏幕中每个所述像素区域的区域大小。
4.根据权利要求3所述的显示屏幕检测方法,其特征在于,所述根据所述第一行列坐标和第二行列坐标的中心坐标和/或区域大小建立所述被检测屏幕的评价公式,用于评价所述被检测屏幕是否合格,包括:
建立所述被检测屏幕的评价公式为其中,s1为被检测屏幕和合格屏幕的匹配度,n1为所述被检测屏幕中一个或多个所述像素区域的区域大小,n是所述合格屏幕中一个或多个所述像素区域的区域大小,是被检测屏幕和合格屏幕的相对误差,β是设定的参数。
5.根据权利要求3所述的显示屏幕检测方法,其特征在于,所述根据所述第一行列坐标和第二行列坐标的中心坐标和/或区域大小建立所述被检测屏幕的评价公式,用于评价所述被检测屏幕是否合格,包括:
建立所述被检测屏幕的评价公式为其中,s2为被检测屏幕的重影度,pi和qi分别表示被检测屏幕中每个像素区域的长和宽,wi和hi分别表示合格屏幕中每个像素区域的长和宽,abs表示取绝对值,是设定的参数,被表示求和。
6.根据权利要求1所述的显示屏幕检测方法,其特征在于,所述根据所述第一行列坐标和第二行列坐标计算每个像素区域的中心坐标和/或区域大小包括:
根据所述第一行列坐标和所述第二行列坐标分别统计每个所述像素区域的行列坐标的最大最小值,计算所述最大最小值的平均值确定为所述被检测屏幕中每个所述像素区域的中心坐标和所述合格屏幕中每个所述像素区域的中心坐标。
7.根据权利要求6所述的显示屏幕检测方法,其特征在于,所述根据所述第一行列坐标和第二行列坐标的中心坐标和/或区域大小建立所述被检测屏幕的评价公式,用于评价所述被检测屏幕是否合格,包括:建立所述被检测屏幕的评价公式为其中,是被检测屏幕和合格屏幕中的一个或多个像素区域的中心坐标的偏移度大小,是设定的参数,(x1,y1)、(x,y)分别表示合格屏幕中每个所述像素区域的中心坐标和被检测屏幕中每个所述像素区域的中心坐标。
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