[发明专利]一种提前测试装箱结果的方法在审

专利信息
申请号: 202310421864.X 申请日: 2023-04-19
公开(公告)号: CN116542197A 公开(公告)日: 2023-08-04
发明(设计)人: 王烽宇;夏燕;冯苏红 申请(专利权)人: 中科亿海微电子科技(苏州)有限公司
主分类号: G06F30/343 分类号: G06F30/343;G06F30/327
代理公司: 江苏坤象律师事务所 32393 代理人: 朱冀梁
地址: 215127 江苏省苏州市吴中*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 提前 测试 装箱 结果 方法
【说明书】:

发明提供一种提前测试装箱结果的方法包括:获取并解析网表文件、装箱文件、集群文件、映射文件;通过端口信号源参数的值确定端口实际是否发生转换;基于装箱前lut_mask的值确定逻辑单元的模式;基于所述逻辑单元的模式得到装箱后所述lut_mask的预期值;比对所述实际值和预期值,依照比对结果判断装箱是否准确。本发明的提前测试装箱结果的方法,便于用户提前获知装箱结果是否正确,提高了自动化设计的效率,更适合实际应用的情况;通过将比对结果写入结果文件便于用户确认装箱出错位置,简化自动化设计流程。

技术领域

本发明涉及一种可编程逻辑器件测试技术领域,尤其涉及一种提前测试装箱结果的方法。

背景技术

当前存在数量繁多的电子电路自动化设计工具,它们的主要功能是将电路设计转换为网表文件后,再对其进行装箱,布局,布线,生成配码等一系列的流程处理,其中装箱对之后的布局和布线有非常大的影响,保证装箱的准确率可以大大增加整个流程的效率,能够越早发现装箱操作中产生的错误,就能越早做出相应反应,从而提高生产效率。

现有的测试方法,主要是在形成码流文件之后根据码流文件对电路进行测试,例如,根据现场可编程门阵列芯片的结构,产生测试电路约束文件;根据测试电路约束文件,得到综合网表;根据测试电路约束文件和综合网表,得到映射电路网表;根据布局后的电路单元和测试电路约束文件,对测试电路文件完成布线;得到码流文件;根据码流文件对FPGA芯片进行测试。

然而,使用根据码流文件对电路进行测试的方法无法第一时间获得装箱结果是否正确的信息,限制了自动化设计效率的提升;同时由于是根据码流文件对电路进行测试,即使能够获取装箱结果是否正确的信息,也难以找到装箱错误位置。

发明内容

本发明是为解决上述现有技术的全部或部分问题。本发明提供一种提前测试装箱结果的方法,可以在装箱操作完成之后立即对装箱结果进行验证并找到装箱错误的位置。

本发明提供的一种提前测试装箱结果的方法,其中,包括以下步骤:获取并解析网表文件得到装箱前lut_mask的值、共享算术属性和扩展lut属性;获取并解析装箱文件得到逻辑单元装箱后的位置信息;获取并解析集群文件得到信号源参数的值和装箱后lut_mask的实际值;获取并解析映射文件得到逻辑单元装箱后输入端的理论转换信息;基于所述网表文件的内容确定所述逻辑单元的模式;通过所述集群文件中端口信号源参数的值确定端口实际是否发生转换;基于所述逻辑单元的模式计算得到装箱后所述lut_mask的预期值;比对所述实际值和所述预期值,依照比对结果判断装箱是否准确,其中所述lut_mask的值指的是通过解析获得的一段用以描述端口属性的特征值,所述提前测试装箱结果的方法中解析网表文件、装箱文件、映射文件、集群文件之间不存在先后顺序关系,可以按任意次序进行也可以同时进行;所述网表文件是对电路设计逻辑结构的描述文件、所述装箱文件记录了所述网表文件中各个逻辑单元封装后的属性、所述集群文件记录了所述电路装箱后的属性以及布局后的位置信息、所述映射文件记录了端口之间的交换信息;所述提前测试装箱结果的方法能够在装箱完成之后即时对装箱结果进行判断,提前了验证装箱结果的时间点,提高了自动化设计的工作效率;所述提前测试装箱结果的方法中任一步骤均可以自动运行无需人工操作,节约了人力成本。

获取所述端口信号源参数的值、所述装箱后lut_mask的实际值的方法包括,使用编程软件的xml库解析所述集群文件,所述xml库解析的方法还包括DOM方法、SAX方法、JDOM方法和DOM4J方法,前两种为官方提供的解析方法,而后两种,JDOM解析:仅使用具体类,而不使用接口,API大量使用了Collections类。DOM4J解析:JDOM的一种智能分支,它合并了许多超出基本xml文档表示的功能。它使用接口和抽象基本类方法。具有性能优异、灵活性好、功能强大和极端易用的特点,通过上述xml库解析方法能够快速解析文件,获取目标参数值。

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