[发明专利]一种测试例库生成方法、系统、设备及介质

说明书

本发明属于计算机领域，具体涉及一种测试例库生成方法、系统、设备及介质。其中方法包括：基于系统验证特性将芯片测试类型分成多个基础测试标签；对于具体的测试芯片根据所述基础测试标签对每个基础测试标签分别生成关于所述测试芯片的多个子测试标签；将多个基础测试标签对应的子测试标签进行排列组合形成基本测试用例库。通过本发明提出一种测试例库生成方法，根据芯片系统验证阶段的验证特划分四大标签类。基于每个标签类基于具体的测试芯片进行实例化为多个子标签，即sequence。并将每个标签类的子标签进行组合快速形成多个sequence组成测试用例库。可快速实现对测试芯片的测试用例库的生成。

技术领域

本发明属于计算机领域，具体涉及一种测试例库生成方法、系统、设备及介质。

背景技术

在芯片验证领域，尤其在芯片验证方法学、寄存器模型及网表寄存器正确性判定方面，UVM(Universal Verification Methodology，通用验证方法学)是一个以SystemVerilog类库为主体的验证平台开发框架，验证工程师可以利用其可重用组件构建具有标准化层次结构和接口的功能验证环境。具有速度快、效率高、灵活稳定、集成度高等优点，所以在硬件逻辑验证与设计中是十分必要的。系统测试用例指的是芯片系统验证阶段使用的测试用例，利用UVM的集合特性，将所有系统验证阶段的测试用例集合在一起，形成一个测试用例库；使用此方式生成的测试用例库，只能顺序或乱序随机抽取库内的测试用例用于系统验证，这是由于UVM没有提供复杂的用例库调用策略及调用方法。传统的UVM测试例库的使用上存在流程繁琐，实施困难等问题。

因此，亟需一种有效的方法来解决上述问题。

发明内容

为解决上述问题，本发明提出一种测试例库生成方法，包括：

基于系统验证特性将芯片测试类型分成多个基础测试标签；

对于具体的测试芯片根据所述基础测试标签对每个基础测试标签分别生成关于所述测试芯片的多个子测试标签；

将多个基础测试标签对应的子测试标签进行排列组合形成基本测试用例库。

在本发明的一些实施方式中，基于系统验证特性将芯片测试类型分成多个基础测试标签包括：

基于处理器的工作模式生成关于处理器工作模式的基础测试标签；

基于处理器的运行速率生成关于处理器速率的基础测试标签。

在本发明的一些实施方式中，基于系统验证特性将芯片测试类型分成多个基础测试标签包括：

基于处理器上的对应的功能的子系统生成对应的子系统基础测试标签；

基于处理器通用的基础模块生成对应的基础配置测试标签。

在本发明的一些实施方式中，对于具体的测试芯片根据所述基础测试标签对每个基础测试标签分别生成关于所述测试芯片的多个子测试标签包括：

对于确定的测试芯片根据操作系统在所述测试芯片上对应的工作模式，并基于所述处理器工作模式的基础测试标签生成多种工作模式的处理工作模式子测试标签；

根据所述测试芯片运行频率生成多个关于所述测试芯片的处理器速率的子测试标签；

根据所述测试芯片中具有的对应的功能子系统生成多个对应的子系统基础测试的子标签；

根据所述测试芯片中具有的基础模块生成对应的基础配置的测试子标签。

在本发明的一些实施方式中，将多个基础测试标签对应的子测试标签进行排列组合形成基本测试用例库包括：

从每个基础测试标签分类下的多个子测试标签中选择一个子测试标签与其他基础测试标签分类下对应的子测试标签组成基本测试用例，并将基本测试用例添加到基本测试用例库。