[发明专利]基于子带合成单发多收的柱面孔径数据获取方法、装置及存储介质

权利要求书

1.基于子带合成单发多收的柱面孔径数据获取方法，包括：

获取柱面阵列的相邻阵元中心最大间距及阵列等效采样点个数；

获取一维柱面阵列的发射阵元数量、接收阵元数量、柱面阵列阵元总个数和整个柱面阵列尺寸；

布局一维柱面阵列的发射阵元和接收阵元的几何中心位置；

布局子带合成单发多收的柱面孔径天线；

执行子带合成单发多收近场柱面孔径的数据获取。

2.根据权利要求1所述的方法，其中，获取一维柱面阵列的发射阵元数量、接收阵元数量、柱面阵列阵元总个数和整个柱面阵列尺寸，包括：

根据柱面阵列的相邻发射阵元间隔确定发射阵元数量和相邻收发阵元中心最大间距确定子阵列的接收阵元数量；

根据相邻收发阵元中心最大间距确定子带的接收阵元数量；

根据整个柱面阵列的发射阵元的个数和子带接收阵元的个数确定其整个柱面阵列的接收阵元个数，以确定柱面阵列阵元总个数；

根据相邻收发阵元中心间距修正后得到的圆弧角，得到整个柱面阵列尺寸。

3.根据权利要求2所述的方法，其中，布局一维柱面阵列的发射阵元和接收阵元的几何中心位置，包括：

根据柱面阵列的发射阵元数、邻发射阵元间隔和柱面阵列的圆弧角确定一维柱面阵列的发射阵元的几何中心位置；

根据柱面阵列的接收阵元数、子阵列接收阵元数和相邻收发阵元中心间距确定柱面阵列的接收阵元的几何中心位置。

4.根据权利要求3所述的方法，其中，根据柱面阵列的发射阵元数、邻发射阵元间隔和柱面阵列的圆弧角确定一维柱面阵列的发射阵元的几何中心位置，包括：

设置柱面孔径中任意柱面阵列的顺时针计数第一个子带发射阵元几何中心的坐标；

设置发射阵元的临时顺时针计数变量；

通过临时顺时针计数变量的计数，确定柱面阵列顺时针计数的子带发射阵元的几何中心坐标。

5.根据权利要求4所述的方法，其中，根据柱面阵列的接收阵元数、子阵列接收阵元数和相邻收发阵元中心间距确定柱面阵列的接收阵元的几何中心位置，包括：

确定任意柱面阵列的计数第一个发射阵元几何中心位置；

设置第一个发射阵元的临时计数变量和第一个接收阵元的临时计数变量；

依次逆时针和顺时针排布接收阵元；

通过顺时针计数变量的计数，确定柱面阵列的接收阵元的几何中心位置。

6.根据权利要求5所述的方法，其中，依次逆时针和顺时针排布接收阵元，包括：

确定柱面阵列中逆时针计数的接收阵元的几何中心坐标；

通过逆时针计数变量的计数，完成逆时针排布接收阵元；

确定柱面阵列中顺时针计数的接收阵元的几何中心坐标；

通过顺时针计数变量的计数，完成顺时针排布接收阵元。

7.根据权利要求6所述的方法，其中，布局子带合成单发多收的柱面孔径天线，包括：

根据圆弧角分别布局左边阵列和右边阵列，完成天线阵列布局。

8.根据权利要求7所述的方法，其中，执行子带合成单发多收近场柱面孔径的数据获取，包括：

划分子带的发射阵元信号频段；

信号收发，设置临时变量；

通过临时变量的计数，基于循环在左边阵列的子带和与其关联的右边阵列的子带同时刻循环发射雷达信号，完成数据获取。

9.基于子带合成单发多收的柱面孔径数据获取装置，包括：

处理模块，其配置为获取柱面阵列的相邻阵元中心最大间距及阵列等效采样点个数；获取一维柱面阵列的发射阵元数量、接收阵元数量、柱面阵列阵元总个数和整个柱面阵列尺寸；

布局模块，其配置为布局一维柱面阵列的发射阵元和接收阵元的几何中心位置；布局子带合成单发多收的柱面孔径天线；

获取模块，其配置为执行子带合成单发多收近场柱面孔径的数据获取。

10.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机可执行指令，所述计算机可执行指令由处理器执行时，实现：

根据权利要求1至8任一项所述的基于子带合成单发多收的柱面孔径数据获取方法。