[发明专利]一种适用于国产卫星高光谱数据的掩膜方法在审
| 申请号: | 202310369668.2 | 申请日: | 2023-04-07 |
| 公开(公告)号: | CN116523773A | 公开(公告)日: | 2023-08-01 |
| 发明(设计)人: | 杨燕杰;叶发旺;李新春;邱骏挺 | 申请(专利权)人: | 核工业北京地质研究院 |
| 主分类号: | G06T5/00 | 分类号: | G06T5/00 |
| 代理公司: | 核工业专利中心 11007 | 代理人: | 陈丽丽 |
| 地址: | 100029 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 适用于 国产 卫星 光谱 数据 方法 | ||
1.一种适用于国产卫星高光谱数据的掩膜方法,其特征在于,所述方法包括以下步骤:
步骤1、获取国产高光谱卫星地面反射率的影像数据;
步骤2、提取高分5号卫星1426nm或者资源02D卫星1425nm波段的影像像元值H1;
步骤3、提取高分5号卫星1477nm或者资源02D卫星1475nm波段的影像像元值H2;
步骤4、根据影像像元值H1和影像像元值H2,得到影像像元值H3;
步骤5、根据影像像元值H1、H2和H3,获得影像像元值H。
2.根据权利要求1所述的一种适用于国产卫星高光谱数据的掩膜方法,其特征在于,所述步骤1具体为:获取国产高光谱卫星影像数据,利用flash方法对影像做大气校正,获取地面反射率的影像数据。
3.根据权利要求2所述的一种适用于国产卫星高光谱数据的掩膜方法,其特征在于,所述步骤4中影像像元值H3的计算公式为:
H3=H1/H2。
4.根据权利要求3所述的一种适用于国产卫星高光谱数据的掩膜方法,其特征在于,所述步骤5中影像像元值H的计算公式为:
H=(H1 gt 0)*(H2 gt 0)*(H3 lt 1.3),
即当影像像元值H1、H2和H3同时满足:影像像元值H3小于1.3,影像像元值H1大于0,并且影像像元值H2大于0条件时,H=H1*H2*H3。
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