[发明专利]一种对光模块进行自动老化测试的测试系统在审

专利信息
申请号: 202310355922.3 申请日: 2023-04-06
公开(公告)号: CN116577576A 公开(公告)日: 2023-08-11
发明(设计)人: 郭利伟;李江华;杜光云;李连城;魏志坚;过开甲;郑波 申请(专利权)人: 深圳市迅特通信技术股份有限公司;江西迅特通信技术有限公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00
代理公司: 北京易捷胜知识产权代理有限公司 11613 代理人: 韩国胜
地址: 518000 广东省深圳市南山区桃源街道*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 对光 模块 进行 自动 老化 测试 系统
【权利要求书】:

1.一种对光模块进行自动老化测试的测试系统,其特征在于,包括控制电脑、承载待测光模块的测试箱;

控制电脑基于预先定义的老化测试配置信息,对测试箱内的待测光模块和测试箱进行控制,以使测试箱基于预设温度范围对待测光模块进行老化测试;

所述测试箱包括:测试主板;

所述待测光模块进行分层放置且电连接测试主板,控制电脑通过测试主板控制每个待测光模块;

所述测试箱的一侧面设置有用于对待测光模块进行散热且保持测试箱体内温度在预设范围内的散热结构。

2.根据权利要求1的所述的测试系统,其特征在于,所述测试主板包括层板和背板,

所述背板作为测试主板的支撑结构设置于测试箱的一侧面;

所述层板通过可拆卸插拔方式与背板电连接;

每一层板通过可插拔方式插接至少一个待测光模块。

3.根据权利要求1的所述的测试系统,其特征在于,所述散热结构为设置在测试箱一侧面且并排放置的多个散热风扇,每一散热风扇借助于支撑架固定在测试箱的侧面,且电连接测试主板;

所述测试箱为半封闭结构,利用待测光模块工作发热做热源,通过控制电脑获取待测光模块工作温度,并根据预设温度范围控制所述散热风扇转速,实现两侧对流散热达到恒温效果。

4.根据权利要求1的所述的测试系统,其特征在于,所述测试箱还包括DC程控电源,

所述DC程控电源与测试主板、散热结构电连接;

所述DC程控电源与控制电脑通信连接,接收控制信号对测试箱及待测光模块进行供电/断电。

5.根据权利要求4的所述的测试系统,其特征在于,所述DC程控电源与控制电脑通过串口通信连接。

6.根据权利要求1的所述的测试系统,其特征在于,所述控制电脑在测试过程中按照预设时间间隔获取待测光模块的状态信息并展示。

7.根据权利要求6的所述的测试系统,其特征在于,所述待测光模块的状态信息包括以下一种或多种:

光模块类型,电压,电流,温度,发射功率,接收功率,误码率。

8.根据权利要求1至7任一所述的测试系统的测试方法,其特征在于,包括:

S1,控制电脑端接收待测光模块的老化测试配置信息;

S2,根据老化测试配置信息,向连接的测试箱发送配置指令,以使测试箱基于配置指令进行自动化配置,并启动测试;

S3,控制电脑周期接收测试箱反馈的测试箱的光模块测试状态信息并展示。

9.根据权利要求8所述的测试方法,其特征在于,所述配置指令包括温度范围,

所述测试箱根据所述温度范围控制所述散热结构工作,使得待测光模块在所述温度范围内进行老化测试。

10.根据权利要求8所述的测试方法,其特征在于,在步骤S3之后还包括:

控制电脑在老化测试完成后,根据测试结果和预设报告模板自动生成测试报告。

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