[发明专利]一种同轴式双组元喷嘴原材料致密性检测装置在审
申请号: | 202310346418.7 | 申请日: | 2023-04-03 |
公开(公告)号: | CN116359095A | 公开(公告)日: | 2023-06-30 |
发明(设计)人: | 马胜;杜疆;朱笑睿;张勤练;张文博;张文强;范文强 | 申请(专利权)人: | 西安航天发动机有限公司 |
主分类号: | G01N15/08 | 分类号: | G01N15/08;G01M3/06 |
代理公司: | 中国航天科技专利中心 11009 | 代理人: | 贾文婷 |
地址: | 710100 陕西省*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 同轴 式双组元 喷嘴 原材料 致密 检测 装置 | ||
本申请公开了一种同轴式双组元喷嘴原材料致密性检测装置,涉及航天运载器发动机制造领域,包括密封套筒、橡胶塞,橡胶塞卡设于同轴式双组元喷嘴的一端,密封套筒套设于橡胶塞和同轴式双组元喷嘴外部,同轴式双组元喷嘴的外壁与密封套筒内壁之间密封连接,密封套筒的一端开设有中心孔,中心孔与同轴式双组元喷嘴未连接橡胶塞的一端连通,中心孔用于向同轴式双组元喷嘴内灌入液体;密封套筒设有用于向密封套筒内通入气体的进气口。实现对同轴式双组元喷嘴原材料致密性的检测。
技术领域
本发明属于航天运载器发动机制造技术领域,具体涉及一种用于同轴式双组元喷嘴原材料致密性检测的装置。
背景技术
目前,国内外对于原材料致密性无损检测方法主要有三种:第一种是超声波探伤,其特征是用超声波检测材料和工件、并以超声波检测仪作为显示方式的一种无损检测方法;第二种是射线探伤,其特征是用射线透过材料和工件,并用接受仪器感光程度确定内部结构的一种无损检测方法;第三种是渗透探伤,其特征是用渗透液渗入表面开口缺陷中,并用显像剂显示缺陷的一种无损检测方法。第一种超声波探伤,具有穿透力强、灵敏度高、仪器轻便、探伤灵活等特色,但因探伤结果的可靠性过分依赖于探头型号、规格和技术指标等,且并无相应的检测标准,不适于同轴式双组元喷嘴原材料致密性检测。第二种射线探伤,可以直观显示缺陷的形状和大小,但对于复杂结构当工件结构重叠时,则无法准确判断处缺陷。第三种渗透探伤,只能检测缺陷较大,且长度较小的缺陷,不适于具有贯穿与零件的长、且表面较小的缺陷。
发明内容
本发明解决的技术问题是:克服现有技术的不足,提供一种同轴式双组元喷嘴原材料致密性检测装置,实现对同轴式双组元喷嘴原材料致密性的检测。
本发明的技术解决方案是:
一种同轴式双组元喷嘴原材料致密性检测装置,包括密封套筒、橡胶塞,
橡胶塞卡设于同轴式双组元喷嘴的一端,密封套筒套设于橡胶塞和同轴式双组元喷嘴外部,同轴式双组元喷嘴的外壁与密封套筒内壁之间密封连接,密封套筒的一端开设有中心孔,中心孔与同轴式双组元喷嘴未连接橡胶塞的一端连通,中心孔用于向同轴式双组元喷嘴内灌入液体;
密封套筒设有用于向密封套筒内通入气体的进气口。
所述密封套筒包括左套筒和右套筒,左套筒和有套筒之间螺纹连接;中心孔开设于右套筒端部,进气孔开设于左套筒。
所述同轴式双组元喷嘴包括小端、以及与小端相接的斜面部,沿着远离小端的方向、斜面部的外径的直径逐渐增大;右套筒的内壁设有与斜面部配合的锥面部,以使同轴式双组元喷嘴的外壁与密封套筒内壁之间密封。
所述斜面部套设有第一橡胶圈,第一橡胶圈卡设于斜面部和锥面部之间。
所述右套筒的端部设有连接部,连接部插入到左套筒的内部并与左套筒螺纹连接,左套筒的端部与右套筒的端部之间为多台阶对接结构,沿着远离密封套筒轴线方向、多台阶对接结构逐渐向靠近中心孔的方向倾斜。
所述左套筒的端部与右套筒的端部之间设置有第二橡胶圈。
所述第二橡胶圈位于多台阶对接结构的中部位置。
所述橡胶塞插入同轴式双组元喷嘴内的一端呈锥台形。
所述进气口连接有进气管嘴。
综上所述,本申请至少包括以下有益技术效果:
(1)实现同轴式双组元喷嘴原材料致密性检测;
(2)因气体分子直径较小,故能够检测特别微小原材料缺陷;
(3)通过灌入酒精溶液,可以直观检测出原材料是否致密,且能够直接确定不致密位置及缺陷表面大小。
附图说明
图1本发明的结构示意图。
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