[发明专利]数据获取方法及装置、电子设备及计算机可读存储介质

权利要求书

1.一种数据获取方法，其特征在于，包括：

构建第一埋点结构体和第二埋点结构体，所述第一埋点结构体位于用户空间，所述第二埋点结构体位于内核空间，预设算法在所述用户空间中运行，每个所述预设算法均具有对应的所述第一埋点结构体和所述第二埋点结构体，所述第一埋点结构体用于收集对应的所述预设算法运行时的埋点数据；

在所述用户空间和所述内核空间分别构建进行交互的第一交互结构体和第二交互结构体，并将所述第一埋点结构体收集的埋点数据填充到所述第一交互结构体；

通过所述第二交互结构体与所述第一交互结构体通信，以获取所述第一交互结构体的埋点数据，根据所述第二交互结构体获取的埋点数据填充目标埋点结构体，所述目标埋点结构体为任一所述第二埋点结构体，所述目标埋点结构体通过解析所述第二交互结构体中的埋点标识号确定；

解析所述目标埋点结构体，以获取所述目标埋点结构体的埋点数据。

2.根据权利要求1所述的数据获取方法，其特征在于，对应同一所述预设算法的所述第一埋点结构体包含的变量和所述第二埋点结构体包含的变量相同，所述第一交互结构体包含的变量和所述第二交互结构体包含的变量相同。

3.根据权利要求1所述的数据获取方法，其特征在于，所述将所述第一埋点结构体收集的埋点数据填充到所述第一交互结构体，包括：

将所述第一埋点结构体的埋点标识号、所述第一埋点结构体收集的埋点数据的存储的地址及存储空间占用量，填充到所述第一交互结构体。

4.根据权利要求1或3所述的数据获取方法，其特征在于，所述将所述第一埋点结构体收集的埋点数据填充到所述第一交互结构体，还包括：

对所述第一埋点结构体收集的埋点数据进行第一校验操作，并将校验操作得到的第一校验值填充到所述第一交互结构体；

所述数据获取方法还包括：

对所述第二交互结构体的埋点数据进行第二校验操作，并比较所述第一校验值和第二校验操作得到的第二校验值；

在所述第一校验值和所述第二校验值不相同的情况下，确定所述第二交互结构体的埋点数据不可用。

5.根据权利要求1所述的数据获取方法，其特征在于，所述通过所述第二交互结构体与所述第一交互结构体通信，以获取所述第一交互结构体的埋点数据，包括：

将所述第一交互结构体的埋点数据写入到预设交互文件，所述预设交互文件映射到所述用户空间的第一交互内存区域，所述第一交互内存区域映射到所述内核空间的第二交互内存区域，所述第二交互结构体映射到所述第二交互内存区域。

6.根据权利要求5所述的数据获取方法，其特征在于，还包括：

统计写入到所述预设交互文件的存储空间占用量；

在统计的存储空间占用量和所述第一交互结构体中的存储空间占用量不相同的情况下，确定所述第一交互结构体的埋点数据写入错误。

7.根据权利要求6所述的数据获取方法，其特征在于，还包括：

在所述第二交互结构体中的存储空间占用量和对应的所述目标埋点结构体中的存储空间占用量不相同的情况下，确定所述第二交互结构体的埋点数据不可用。

8.根据权利要求1所述的数据获取方法，其特征在于，还包括：

将所述目标埋点结构体的埋点数据和所述内核空间直接获取的常规数据打包上传。