[发明专利]应用程序测试方法及装置、电子设备、存储介质

说明书

本申请的实施例公开了一种应用程序测试方法及装置、电子设备、存储介质，该方法包括：获取待测试应用程序的原始埋点数据，并在所述原始埋点数据中进行分析提取，得到多个维度对应的原始埋点信息；获取测试数据，并在所述测试数据中进行分析提取，得到多个维度对应的测试埋点信息；根据所述多个维度对应的测试埋点信息和所述多个维度对应的原始埋点信息生成各个维度对应的测试报告。本申请实施例的技术方案能够解决应用程序的测试的准确性较低的技术问题。

技术领域

本申请涉及计算机技术领域，具体而言，涉及一种应用程序测试方法及装置、电子设备、计算机可读存储介质。

背景技术

随着互联网技术不断发展，呈现越来越多的应用程序，这些应用程序直接影响用户的工作、生活、学习等方方面面。应用程序的测试质量直接影响用户使用及用户体验。目前应用程序的版本开发周期较短、迭代快速且埋点信息日益增加，如何精准评估埋点信息覆盖范围，做到测试无遗漏，成为一项难点。

现有的对埋点信息的精准测试工具主要是针对后台应用程序进行代码覆盖统计，若代码中存在冗余，会导致覆盖率存在一定误差，对于应用程序的测试的准确性较低。

发明内容

为解决上述技术问题，本申请的实施例提供了一种应用程序测试方法及装置、电子设备、计算机可读存储介质，旨在解决对应用程序的测试的准确性较低的技术问题。

本申请的其他特性和优点将通过下面的详细描述变得显然，或部分地通过本申请的实践而习得。

根据本申请实施例的一个方面，提供了一种应用程序测试方法，包括：

获取待测试应用程序的原始埋点数据，并在所述原始埋点数据中进行分析提取，得到多个维度对应的原始埋点信息；

获取测试数据，并在所述测试数据中进行分析提取，得到多个维度对应的测试埋点信息；

根据所述多个维度对应的测试埋点信息和所述多个维度对应的原始埋点信息生成各个维度对应的测试报告。

进一步地，所述多个维度包括功能维度和事件维度，所述在所述原始埋点数据中进行分析提取，得到多个维度对应的原始埋点信息，包括：

在所述原始埋点数据中分析提取功能维度的原始埋点信息，并在所述原始埋点数据中分析提取事件维度的原始埋点信息。

进一步地，所述获取测试数据，并在所述测试数据中进行分析提取，得到多个维度对应的测试埋点信息，包括：

获取测试数据，并检测所述测试数据的数据类型；

若所述测试数据的数据类型为在线数据，则获取预设工作流任务，通过所述预设工作流任务实时在所述测试数据中进行分析提取，得到多个维度对应的测试埋点信息；

若所述测试数据的数据类型为离线数据，则根据当前时间确定对应的测试时间段，在所述测试时间段内的测试数据中进行分析提取，得到多个维度对应的测试埋点信息。

进一步地，所述多个维度包括功能维度和事件维度，在所述根据所述多个维度对应的测试埋点信息和所述多个维度对应的原始埋点信息生成各个维度对应的测试报告之后，所述方法还包括：

将所述测试报告分别按照事件维度和功能维度在预设展示页面进行展示。

进一步地，所述多个维度包括功能维度和事件维度，所述根据所述多个维度对应的测试埋点信息和所述多个维度对应的原始埋点信息生成各个维度对应的测试报告，包括：

获取事件维度对应的测试埋点信息和原始埋点信息；

根据所述事件维度对应的测试埋点信息和原始埋点信息计算事件维度下的测试覆盖率，并统计所述事件维度下的测试埋点信息的第一测试频次；