[发明专利]基于纳米圆环和狭缝结构的片上轨道角动量分选器与方法在审

专利信息
申请号: 202310307001.X 申请日: 2023-03-27
公开(公告)号: CN116299804A 公开(公告)日: 2023-06-23
发明(设计)人: 魏仕彪;马艺娟;彭健生 申请(专利权)人: 深圳大学
主分类号: G02B5/00 分类号: G02B5/00
代理公司: 深圳市海顺达知识产权代理有限公司 44831 代理人: 罗志伟
地址: 518054 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 基于 纳米 圆环 狭缝 结构 上轨道 角动量 分选 方法
【权利要求书】:

1.一种基于纳米圆环和狭缝结构的片上轨道角动量分选器,其特征在于:包括基膜,所述基膜上刻蚀有圆环。

2.根据权利要求1所述的基于纳米圆环和狭缝结构的片上轨道角动量分选器,其特征在于:所述基膜上刻蚀有狭缝,所述狭缝位于所述圆环的圆心上。

3.根据权利要求2所述的基于纳米圆环和狭缝结构的片上轨道角动量分选器,其特征在于:所述狭缝刻透所述基膜。

4.根据权利要求2所述的基于纳米圆环和狭缝结构的片上轨道角动量分选器,其特征在于:所述基膜上刻蚀有光栅结构,所述光栅结构位于所述狭缝的任意一侧。

5.根据权利要求4所述的基于纳米圆环和狭缝结构的片上轨道角动量分选器,其特征在于:所述光栅结构不刻透所述基膜。

6.根据权利要求4所述的基于纳米圆环和狭缝结构的片上轨道角动量分选器,其特征在于:所述基膜的厚度为200纳米,所述圆环的刻蚀深度为100纳米,所述狭缝的刻蚀深度为200纳米,所述光栅结构的蚀刻深度为100纳米。

7.根据权利要求1所述的基于纳米圆环和狭缝结构的片上轨道角动量分选器,其特征在于:所述圆环不刻透所述基膜。

8.根据权利要求1所述的基于纳米圆环和狭缝结构的片上轨道角动量分选器,其特征在于:所述圆环至少有一个。

9.据权利要求1至8中任一项所述的基于纳米圆环和狭缝结构的片上轨道角动量分选器,其特征在于:所述基膜为金膜或银膜。

10.一种基于纳米圆环和狭缝结构的片上轨道角动量分选方法,其特征在于:基于权利要求4所述的片上轨道角动量分选器进行以下分选过程:

S1、将不同拓扑荷的OAM光束垂直入射圆环后,在近场激发不同半径大小的SPPs场,OAM的中文含义为轨道角动量,SPPs的中文含义为表面等离激元;

S2、通过狭缝测量OAM拓扑荷的绝对值大小;

S3、通过光栅结构区分OAM拓扑荷的正负。

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