[发明专利]一种存储数据可靠性检测方法、装置、设备及存储介质

说明书

本申请涉及存储技术领域，公开了一种存储数据可靠性检测方法、装置、设备及存储介质，包括：对各固定数据页的脆弱性进行第一巡检；其中，所述固定数据页为从目标存储设备的待检测晶粒中包含的目标数据块中选取的多个具有脆弱属性的数据页；如果第一巡检结果表征各所述固定数据页的脆弱性满足预设条件，则从所述目标数据块中确定出一个动态数据页，并对所述动态数据页的脆弱性进行第二检测；如果第二巡检结果表征所述动态数据页的脆弱性满足所述预设条件，则判定所述目标数据块中存储的数据均为可靠数据。本申请在对固定数据页进行巡检的基础上，增加一个动态数据页的补偿巡检，提升存储设备的数据可靠性。

技术领域

本发明涉及存储技术领域，特别涉及一种存储数据可靠性检测方法、装置、设备及存储介质。

背景技术

现有技术中为了提升存储设备的数据可靠性，一般通过数据巡检的方式，以存储设备的晶粒die为单位，在单位时间(如1小时)内将所有的数据块巡检一遍。一方面，由于每个数据块包含很多(高达1152个)数据页，如果对每个数据页都巡检的话，会对正常的读/写产生影响，例如，造成性能抖动等。另一方面，可能存在检测不出更脆弱的数据页的情况，这种情况下，用户执行该数据页对应用户数据的读操作的话，会进入纠错流程，大概率会导致纠错失败，致使数据丢失，影响了存储设备数据的可靠性。

因此，上述技术问题亟待本领域技术人员解决。

发明内容

有鉴于此，本发明的目的在于提供一种存储数据可靠性检测方法、装置、设备及存储介质，能够提升存储设备的数据可靠性。其具体方案如下：

本申请的第一方面提供了一种存储数据可靠性检测方法，包括：

对各固定数据页的脆弱性进行第一巡检；其中，所述固定数据页为从目标存储设备的待检测晶粒中包含的目标数据块中选取的多个具有脆弱属性的数据页；

如果第一巡检结果表征各所述固定数据页的脆弱性满足预设条件，则从所述目标数据块中确定出一个动态数据页，并对所述动态数据页的脆弱性进行第二检测；

如果第二巡检结果表征所述动态数据页的脆弱性满足所述预设条件，则判定所述目标数据块中存储的数据均为可靠数据。

可选的，所述对各固定数据页的脆弱性进行第一巡检，包括：

获取各所述固定数据页的比特出错概率，并判断各所述固定数据页的比特出错概率是否均大于预设阈值；

如果是，则判定各所述固定数据页的脆弱性满足所述预设条件。

可选的，所述对各固定数据页的脆弱性进行第一巡检之前，还包括：

根据所述目标存储设备的设备特性对所述目标数据块中全部数据页的比特出错概率按照从大至小的顺序进行排列，并从中选取排列靠前的多个数据页，得到多个所述固定数据页。

可选的，所述从所述目标数据块中确定出一个动态数据页，并对所述动态数据页的脆弱性进行第二检测，包括：

如果所述第二巡检为第一轮检测，则通过伪随机方式从所述目标数据块中随机选取一个数据页作为初始动态数据页；

获取所述初始动态数据页的比特出错概率，并判断所述初始动态数据页的比特出错概率是否均大于所述预设阈值；

如果是，则判定所述初始动态数据页的脆弱性满足所述预设条件。

可选的，所述通过伪随机方式从所述目标数据块中随机选取一个数据页作为初始动态数据页，包括：

确定所述待检测晶粒中包含的数据块的第一数量，并确定所述目标数据块中的数据页的第二数量；

对所述第一数量和所述第二数量进行求余运算，并将运算结果表征的地址编号处的数据页确定为所述初始动态数据页。