[发明专利]一种绝缘子缺陷检测方法、装置、设备及介质

权利要求书

1.一种绝缘子缺陷检测方法，其特征在于，包括以下步骤：

获取绝缘子的第一图像；其中，所述第一图像为以第一视角采集的绝缘子的图像，所述第一视角为所述绝缘子的俯视角；

获取绝缘子的多张第二图像；其中，多张所述第二图像包括以第二视角采集的所述绝缘子绕中心轴线旋转不同角度的图像，所述第二视角为所述绝缘子的正面视角；

分别对获取的所述第一图像和多张所述第二图像进行图像处理；

分别提取图像处理后的第一图像和多张第二图像的特征信息，并将所述特征信息与数据库进行比对，以获取比对结果；其中，所述数据库中存储有所述绝缘子的特征对应的缺陷种类数据；

根据所述比对结果，判断当前检测的所述绝缘子是否属于不合格品；

所述分别对获取的所述第一图像和多张所述第二图像进行图像处理，包括：

分别对获取的所述第一图像和多张所述第二图像进行灰度处理，以分别获得第一灰度图像和多张第二灰度图像；

对所述第一灰度图像和多张所述第二灰度图像进行降噪处理；

对降噪后的第一灰度图像和多张第二灰度图像分别进行阈值分割，以分别得到二值化图像A和多张二值化图像B；

所述分别提取图像处理后的第一图像和多张第二图像的特征信息，并将所述特征信息与数据库进行比对，以获取比对结果，包括：

提取所述第一灰度图像和多张所述第二灰度图像中的阴影信息，将所述阴影信息与数据库进行比对，以检测出是否存在异常阴影信息，若存在，停止检测；

提取所述二值化图像A和多张所述二值化图像B的轮廓信息，将所述轮廓信息与数据库进行比对，以获得比对结果；

所述绝缘子包括绝缘件以及分别连接于所述绝缘件上下部的上金属附件和下金属附件，所述绝缘件上具有多个同心的圆环凸起；

所述提取所述二值化图像A和多张所述二值化图像B的轮廓信息，将所述轮廓信息与数据库进行比对，以获得比对结果，包括：

分别识别所述二值化图像A中每个对应所述圆环凸起的环形轮廓信息；

提取每组所述环形轮廓信息中的多个直径数据，以获取多组直径数据集{d1、d2、d3...dn}；其中，多个所述直径数据在环形轮廓不同位置对应的直径段进行取值，n为每组环形轮廓进行取值的直径段数量；

筛选出所述直径数据集{d1、d2、d3...dn}中的直径最大值d_max以及直径最小值d_min，若直径最大值d_max≥直径上限值dΔ1或直径最小值d_min≤直径下限值dΔ2，则比对结果为不合格；其中，所述直径上限值dΔ1与所述直径下限值dΔ2均为所述数据库中的预设值；

获取直径数据集{d1、d2、d3...dn}的平均直径值dm，若平均直径值dm≥直径标准值dΔ3，则比对结果为不合格；其中，直径标准值dΔ3为数据库中的预设值。

2.如权利要求1所述的一种绝缘子缺陷检测方法，其特征在于，所述提取所述二值化图像A和多张所述二值化图像B的轮廓信息，将所述轮廓信息与数据库进行比对，以获得比对结果，还包括：

分别获取所述二值化图像B中对应所述上金属附件的第一轮廓信息以及对应所述下金属附件的第二轮廓信息；

分别构建所述二值化图像B对应绝缘子的标准中心轴线、所述第一轮廓信息的第一中心轴线以及所述第二轮廓信息的第二中心轴线；

分别获取所述第一中心轴线与所述标准中心轴线的夹角θ1、所述第二中心轴线与所述标准中心轴线的夹角θ2以及所述第一中心轴线与所述第二中心轴线的夹角θ3；

将所述夹角θ1和所述夹角θ2分别与第一阈值θm进行比较，若所述夹角θ1或所述夹角θ2大于或等于第一阈值θm，则比对结果为不合格；其中，所述第一阈值θm为所述数据库中预设的误差最大值；

将所述夹角θ3与第二阈值θn进行比较，若所述夹角θ3大于或等于所述第二阈值θn，则比对结果为不合格；其中，所述第二阈值θn为所述数据库中预设的误差标准值。