[发明专利]一种基于可靠性分析的主板功能测试策略方法及系统

说明书

本发明公开了一种基于可靠性分析的主板功能测试策略方法及系统，包括如下步骤：S1：分析主板电路图，建立针对主板功能测试环节的故障树；S2：对所述故障树进行可靠性分析，计算所述故障树中的中间事件的发生概率，基于所述发生概率设定可靠性指标阈值；S3：统计实际产线上主板的测试数据，计算所述主板功能测项的实际不良率，将所述实际不良率和所述可靠性指标阈值进行比较，得到主板功能测项的测试策略；该主板功能测试策略方法及系统能够解决行业内现行的主板功能测试策略设计方法缺乏理论依据的问题，并且在保证行业良率要求的情况下提升整体经济效益。

技术领域

本发明涉及主板测试技术领域，尤其涉及一种基于可靠性分析的主板功能测试策略方法及系统。

背景技术

随着生活水平的提升和工作内容的需要，人们对电子产品的需求量越来越大，同时，超大规模集成电路和片上系统的发展使得电子产品的功能大多集成在主板上，因此，为保证产品质量，需要设置主板功能测试环节对主板质量进行严格把控。然而，该环节产生的测试成本不容忽视，有必要通过设计合适的测试策略减少测试成本。

目前主要通过测项排序和测项选择两种方法设计测试策略，但是测项排序方法仅能减少不良主板的测试时间，不适用于主板生产这种大批量、高良率的产品测试。

发明内容

基于背景技术存在的技术问题，本发明提出了一种基于可靠性分析的主板功能测试策略方法及系统，能够解决行业内现行的主板功能测试策略设计方法缺乏理论依据的问题，并且在保证行业良率要求的情况下提升整体经济效益。

本发明提出的一种基于可靠性分析的主板功能测试策略方法，包括如下步骤：

S1：分析主板电路图，建立针对主板功能测试环节的故障树；

S2：对所述故障树进行可靠性分析，计算所述故障树中的中间事件的发生概率，基于所述发生概率设定主板功能测项的可靠性指标阈值；

S3：统计实际产线上主板的测试数据，计算所述主板功能测项的实际不良率，将所述实际不良率和所述可靠性指标阈值进行比较，得到主板功能测项的测试策略。

进一步地，在步骤S4后，基于主板的平均测试时间、缺陷水平和平均测试总成本对所述主板的测试策略进行有效性验证，具体验证过程如下：

基于所述平均测试时间评价所述测试策略的测试效率；

基于所述缺陷水平评价所述测试策略的测试质量；

基于所述平均测试总成本评价所述测试策略的综合水平。

进一步地，所述平均测试时间的计算公式如下：

f₁＝t^Ts

其中，f₁表示平均测试时间，t^T表示对实际产线上主板的平均测试时间t的转置，s表示测试策略；

所述缺陷水平的计算公式如下：

其中，f₂表示缺陷水平，p₀表示使用测试策略s时真实的合格主板数目，p表示使用测试策略s时测试通过的主板数目，n表示主板的数目，m表示每块主板的功能测试项目数，s_i表示第i个功能测项的测试策略，D_i，k表示第k块主板的第i个功能测项的实际测试结果；

所述平均测试总成本的计算公式如下：

其中，f表示平均测试总成本，w表示一块假阳性主板所造成的维修成本。