[发明专利]一种锥束CT系统校正方法

权利要求书

1.一种锥束CT系统校正方法，其特征在于，包括如下步骤：

获取几何校正模体的投影图像序列，所述投影图像序列中包括多个投影图像；所述投影图像序列为所述几何校正模体旋转一周的过程中，待校正锥束CT系统扫描所述几何校正模体得到的；所述几何校正模体为旋转体，在所述旋转体的轴上设置有贯穿所述旋转体的标记线；

在各所述投影图像中确定包含所述标记线的标记行；

在各投影图像中，根据各像素点的灰度值确定各标记行的标记中心列坐标；

对于各标记行，根据各投影图像中的标记中心列坐标，确定各标记行的旋转轴投影列坐标；

对各标记行的旋转轴投影列坐标进行拟合，根据拟合结果确定中心射线投影列坐标和探测器面内旋转角；

根据所述中心射线投影列坐标和探测器中心列坐标确定探测器中心偏移量；

按照所述探测器面内旋转角和所述探测器中心偏移量对所述锥束CT系统进行校正。

2.根据权利要求1所述的锥束CT系统校正方法，其特征在于，获取几何校正模体的投影图像序列的步骤，包括：

获取明场校正数据和暗场校正数据；

获取几何校正模体的初始投影图像序列，所述初始投影图像序列中包括多个初始投影图像；所述初始投影图像序列为所述几何校正模体旋转一周的过程中，所述待校正锥束CT系统扫描所述几何校正模体得到的；

根据所述明场校正数据和暗场校正数据对各所述初始投影图像进行明场校正和暗场校正，得到所述投影图像序列。

3.根据权利要求1所述的锥束CT系统校正方法，其特征在于，通过如下步骤确定标记行的标记中心列坐标：

在一标记行中，确定所述标记行中各像素点与距离index列的像素点之间的灰度值差值，index的值根据所述标记线的半径和探测器像素尺寸确定；

将所述灰度值差值最大的像素点所在的列坐标确定为所述标记行的标记中心列坐标。

4.根据权利要求3所述的锥束CT系统校正方法，其特征在于，

其中，r为所述标记线的半径，M为所述待校正锥束CT系统的放大倍数设计值，pixelSize为探测器像素尺寸。

5.根据权利要求1所述的锥束CT系统校正方法，其特征在于，

对于一标记行，根据各投影图像中所述标记行对应的标记中心列坐标的均值，确定所述标记行的旋转轴投影列坐标。

6.根据权利要求1所述的锥束CT系统校正方法，其特征在于，对各标记行的旋转轴投影列坐标进行拟合，根据拟合结果确定中心射线投影列坐标的步骤，包括：

根据标记行的行号和旋转轴投影列坐标构建合成点的坐标；

对各合成点的坐标进行拟合，根据中心行对应的拟合结果确定所述中心射线投影列坐标，所述中心行为各标记行中，位于中心位置的标记行。

7.根据权利要求1所述的锥束CT系统校正方法，其特征在于，对各标记行的旋转轴投影列坐标进行拟合，根据拟合结果确定探测器面内旋转角的步骤，包括：

根据标记行的行号和旋转轴投影列坐标构建合成点的坐标；

对各合成点的坐标进行拟合得到拟合直线；

根据所述拟合直线的斜率确定探测器面内旋转角。

8.根据权利要求1或6所述的锥束CT系统校正方法，其特征在于，根据所述中心射线投影列坐标和单个投影图像的总列数确定所述探测器中心偏移量的步骤，包括：

根据所述探测器与所述探测器中心列坐标的差确定所述探测器中心偏移量，所述探测器中心列坐标的值为单个投影图像的总列数的一半。

9.一种计算机设备，其特征在于，包括：

至少一个处理器；以及与所述至少一个处理器通信连接的存储器；其中，所述存储器存储有可被所述至少一个处理器执行的指令，所述指令被所述至少一个处理器执行，从而执行如权利要求1-8中任一项所述的锥束CT系统校正方法。

10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质存储有计算机指令，所述计算机指令用于使所述计算机执行如权利要求1-8中任一项所述的锥束CT系统校正方法。