[发明专利]一种竹片缺陷检测方法、设备及存储设备在审
| 申请号： | 202310286388.5 | 申请日： | 2023-03-22 |
| 公开（公告）号： | CN116433613A | 公开（公告）日： | 2023-07-14 |
| 发明（设计）人： | 郑世祺;宫馨雨 | 申请（专利权）人： | 中国地质大学（武汉） |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06N3/08;G06N7/01;G06T7/136;G06T5/20;G06T5/00;G06N3/0464 |
| 代理公司： | 武汉知产时代知识产权代理有限公司 42238 | 代理人： | 魏波 |
| 地址： | 430000 湖*** | 国省代码： | 湖北;42 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 竹片 缺陷 检测 方法 设备 存储 | ||
1.一种竹片缺陷检测方法，其特征在于：包括以下步骤：
S1、采集竹片图像，并进行预处理，得到处理后的样本集；
S2、构建ResNet检测模型，采用Optuna算法获取模型超参数；
S3、利用超参数对检测模型进行优化，得到优化后的模型；
S4、应用优化后的模型进行竹片缺陷检测。
2.如权利要求1所述的一种竹片缺陷检测方法，其特征在于：所述图像预处理包括灰度变换、滤波和自适应阈值分割。
3.如权利要求1所述的一种竹片缺陷检测方法，其特征在于：所述图像预处理还包括图像校正。
4.如权利要求1所述的一种竹片缺陷检测方法，其特征在于：所述图像预处理还包括图像增强。
5.如权利要求2所述的一种竹片缺陷检测方法，其特征在于：所述自适应阈值分割的具体过程如下：
S11、定义一个固定大小的滑动窗口，以此窗口为中心的像素点构成一个局部区域；
S12、对于每个局部区域，计算其像素点的平均灰度值，作为该区域的阈值；
S13、将该区域内灰度值大于阈值的像素点标记为前景，灰度值小于等于阈值的像素点标记为背景；
S14、将窗口向图像的下一个像素点滑动，并重复步骤S12和S13，直到整个图像被处理完毕。
6.如权利要求3所述的一种竹片缺陷检测方法，其特征在于：所述图像校正的具体过程如下：通过寻找轮廓最小矩形框，计算旋转角度与位移，得到仿射变换矩阵，利用仿射变换将竹片图像自动旋转矫正至水平位置，并移动至图像中心。
7.如权利要求1所述的一种竹片缺陷检测方法，其特征在于：所述ResNet检测模型的构建过程如下：通过卷积层和批归一化层进行特征提取和归一化，然后与原始输入特征相加，最后再通过ReLU激活函数进行非线性变换，最后使用多个残差块来构建ResNet检测模型。
8.如权利要求1所述的一种竹片缺陷检测方法，其特征在于：采用Optuna算法获取ResNet检测模型超参数的过程如下：
S21、定义优化目标函数；所述优化目标函数的输入为ResNet检测模型的初始超参数，输出为ResNet检测模型的检测准确率；
S22、设定ResNet检测模型超参数搜索空间；
S23、根据超参数搜索空间，运用Optuna优化器迭代进行超参数搜索，得到最优超参数。
9.一种存储设备，其特征在于：所述存储设备存储指令及数据用于实现权利要求1～8所述的任意一种竹片缺陷检测方法。
10.一种竹片缺陷检测设备，其特征在于：包括：处理器及存储设备；所述处理器加载并执行存储设备中的指令及数据用于实现权利要求1～8所述的任意一种竹片缺陷检测方法。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国地质大学（武汉），未经中国地质大学（武汉）许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202310286388.5/1.html，转载请声明来源钻瓜专利网。
