[发明专利]一种多发光点检测系统

说明书

本发明涉及一种多发光点检测系统，包括：图像采集装置、图像识别装置、光学暗盒和多条光纤；光学暗盒包括一测试面，图像采集装置安装于光学暗盒上，且用于采集光学暗盒的测试面的图像；光学暗盒的测试面上包括与光纤数量相同的安装孔，光纤的一端从光学暗盒外面通过安装孔与光学暗盒连接，且光纤的端部与光学暗盒的测试面平齐；光纤的另一端设置于待测工件的待测区域；图像识别装置与图像采集装置通信连接，用于接收图像采集装置采集的测试面的图像并对各发光指标进行分析后，得到各光纤对应的待测工件的各待测区域的发光特性。本发明可以测量工件大范围不同平面上的多个发光点的发光特性，适合多个发光点的同时检测。

技术领域

本发明发光源检测领域，尤其涉及一种多发光点检测系统。

背景技术

现有的发光源检测方法，一般包括人工目视查看、摄像机拍摄识别、光敏二极管(颜色传感器)识别等。对于人工目视查看，存在人工判断不准确、视力伤害、劳动强度大的问题；摄像机拍摄识别，主要用于被拍摄工件的发光面比较工整、发光面都在同一个平面上的场景，为防止环境光干扰拍摄识别结果，通常需要在光学暗箱里操作，摄像机与被检测工件的距离也有严格要求，使用上存在一定的局限性；光敏二极管与颜色传感器的检测方法，仅能用于少量的发光点检测，随着待检测发光点数量的增加，检测用二极管数量成比例增加，导致系统复杂、成本高，而且检测误差大，仅能定性判断亮灭。

发明内容

为了解决上述问题，本发明提出了一种多发光点检测系统。

具体方案如下：

一种多发光点检测系统，包括：图像采集装置、图像识别装置、光学暗盒和多条光纤；

光学暗盒包括一测试面，图像采集装置安装于光学暗盒上，且用于采集光学暗盒的测试面的图像；

光学暗盒的测试面上包括与光纤数量相同的安装孔，光纤的一端从光学暗盒外面通过安装孔与光学暗盒连接，且光纤的端部与光学暗盒的测试面平齐；光纤的另一端设置于待测工件的待测区域；

图像识别装置与图像采集装置通信连接，用于接收图像采集装置采集的测试面的图像后，对图像中各像素点的各发光指标进行分析，并基于预先存储的各光纤对应的像素点坐标得到各光纤对应的各发光指标，进而得到各光纤对应的待测工件的各待测区域的发光特性。

进一步的，图像采集装置采用摄像机或图像传感器。

进一步的，图像采集装置的轴线方向垂直于光学暗盒的测试面。

进一步的，测试面为一平整平面。

进一步的，图像识别装置采用PC机或手提电脑。

进一步的，安装孔在测试面上通过阵列的方式进行排列。

进一步的，发光指标包括亮度和色度。

本发明采用如上技术方案利用光纤的优良导光性与柔软性，可以测量工件大范围不同平面上的多个发光点的发光特性，尤其对于一些发光点不在同一个平面上的工件具有很好的适用性，适合多个发光点的同时检测，一致性好，检测效率高。

附图说明

图1所示为本发明实施例系统的结构示意图。

具体实施方式

为进一步说明各实施例，本发明提供有附图。这些附图为本发明揭露内容的一部分，其主要用以说明实施例，并可配合说明书的相关描述来解释实施例的运作原理。配合参考这些内容，本领域普通技术人员应能理解其他可能的实施方式以及本发明的优点。

现结合附图和具体实施方式对本发明进一步说明。

实施例一：

本发明实施例提供了一种多发光点检测系统，如图1所示，包括：图像采集装置1、图像识别装置(图中未显示)、光学暗盒2和多条光纤3。