[发明专利]发光二极管显示面板检测装置及检测方法

说明书

本发明公开了一种发光二极管显示面板检测装置及检测方法。发光二极管显示面板检测装置包含m条第一连接线、n条第二连接线及检测电路。m与n均为正整数。发光二极管显示面板包含m*n个发光二极管。每条第一连接线分别耦接n个发光二极管的正极。每条第二连接线分别耦接m个发光二极管的负极。于发光二极管显示面板检测方法中，检测电路可对m*n个发光二极管选择性地执行第一检测模式至第三检测模式中的至少一种，以检测出异常的发光二极管。

技术领域

本发明是与显示面板有关，尤其是关于一种发光二极管显示面板检测装置及发光二极管显示面板检测方法。

背景技术

一般而言，目前大部分的发光二极管显示面板检测异常的发光二极管的方法通常是在完成巨量转移后通过紫外光照射方式进行光学检测，或是接上系统后通过影像辨识方式进行检测。

然而，由于上述的传统检测方式均是在每一次检测中仅检测单一发光二极管，就整个显示面板所包含的大量发光二极管而言，若要完成所有发光二极管的检测工作，势必要耗费非常长的时间，导致发光二极管显示面板的检测效率不佳，亟待改善。

发明内容

有鉴于此，本发明提出一种发光二极管显示面板检测装置及发光二极管显示面板检测方法，以有效解决现有技术所遭遇到的上述问题。

根据本发明的一具体实施例为一种发光二极管显示面板检测装置。于此实施例中，发光二极管显示面板检测装置用以检测发光二极管显示面板。发光二极管显示面板包含m*n个发光二极管，其中m与n均为正整数。

发光二极管显示面板检测装置包含m条第一连接线、n条第二连接线及检测电路。m与n均为正整数。每一条第一连接线分别耦接n个发光二极管的正极。每一条第二连接线分别耦接m个发光二极管的负极。检测电路用以对该m*n个发光二极管选择性地执行第一检测模式、第二检测模式及第三检测模式中的至少一种，以检测出异常的发光二极管。

其中，于第一检测模式下，当该n条第二连接线中的任一第二连接线作动时，检测电路依序检测该m条第一连接线；当该m条第一连接线中的任一第一连接线作动时，检测电路依序检测该n条第二连接线。于第二检测模式下，当该任一第二连接线作动时，检测电路同时检测该m条第一连接线。于第三检测模式下，当该任一第一连接线作动时，检测电路同时检测该n条第二连接线。

于一实施例中，检测电路先执行第二检测模式或第三检测模式进行异常检测后，再判断检测到的异常的发光二极管的数量大于1或等于1。

于一实施例中，若检测到的异常的发光二极管的数量大于1，检测电路执行第一检测模式定位出异常的发光二极管。

于一实施例中，若检测到的异常的发光二极管的数量等于1，检测电路执行第二检测模式或第三检测模式定位出异常的发光二极管。

于一实施例中，于第一检测模式下，当该任一第二连接线作动时，检测电路依序检测该m条第一连接线与该任一第二连接线之间的电流是否异常；当该任一第一连接线作动时，检测电路依序检测该n条第二连接线与该任一第一连接线之间的电流是否异常。

于一实施例中，于第一检测模式下，当该任一第二连接线作动时，该任一第二连接线与该n条第二连接线中的其余n-1条第二连接线的位准相反；当该任一第一连接线作动时，该任一第一连接线与该m条第一连接线中的其余m-1条第一连接线的位准相反。

于一实施例中，于第一检测模式下，当检测电路检测到该任一第一连接线时，该任一第一连接线与该m条第一连接线中的其余m-1条第一连接线的位准相反；当检测电路检测到该任一第二连接线时，该任一第二连接线与该n条第二连接线中的其余n-1条第二连接线的位准相反。

于一实施例中，于第二检测模式下，检测电路同时检测该m条第一连接线与该任一第二连接线之间的电流是否异常。