[发明专利]地层压力约束的裂缝密度预测方法及相关设备

权利要求书

1.一种地层压力约束的裂缝密度预测方法，其特征在于，包括：

获取地质信息和纵波速度、横波速度以及密度等测井信息；

基于所述地质信息和所述测井信息，求取得到各向异性参数；

基于实测地层压力，计算得到地层压力系数；

根据所述地层压力系数和所述各向异性参数，得到地层压力约束下的裂缝密度预测结果。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述地质信息和所述测井信息，求取得到各向异性参数，包括：

基于所述地质信息和所述测井信息，根据岩石物理特征构建岩石物理模型；

通过所述岩石物理模型的刚度矩阵，结合各向异性理论，求取得到各向异性参数。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述岩石物理模型的刚度矩阵表现形式如下：

其中，C₁₁、C₁₂、C₁₃、C₂₂、C₂₃、C₃₃、C₄₄、C₅₅、C₆₆均表示刚度参数。且C₁₂＝C₁₃、C₂₂＝C₃₃、C₅₅＝C₆₆、C₂₃＝C₂₂-2C₄₄。

4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，各向异性参数与刚度参数关系式如下：

其中，ε^(V)、δ^(V)以及γ为各向异性参数。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

获取常规测井信息和解释测井信息；

基于所述常规测井信息和所述解释测井信息，得到实测地层压力。

6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，通过如下公式，计算得到地层压力约束下的裂缝密度预测结果：

e＝3λ(3-2g)γ/8(1+λ)+(2-K_pa)/(1+λ)

其中，e为裂缝密度，λ为比例系数，^g为横波与纵波比值的平方项，K_pa为地层压力系数。

7.一种地层压力约束的裂缝密度预测装置，其特征在于，包括：

信息获取模块，用于获取地质信息和测井信息；

参数确定模块，用于基于所述地质信息和所述测井信息，求取得到各向异性参数；

压力系数确定模块，用于基于实测地层压力，计算得到地层压力系数；

密度预测模块，用于根据所述地层压力系数和所述各向异性参数，得到地层压力约束下的裂缝密度预测结果。

8.一种电子设备，其特征在于，包括：

存储器，用于存储指令；

处理器，用于调用所述存储器中存储的指令，实现如权利要求1-6任一项所述地层压力约束的裂缝密度预测方法。

9.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机指令，其特征在于，所述计算机指令被处理器执行时实现权利要求1-6中任意一项所述地层压力约束的裂缝密度预测方法。

10.一种芯片，其特征在于，包括至少一个处理器和接口；

所述接口，用于为所述至少一个处理器提供程序指令或者数据；

所述至少一个处理器用于执行所述程序指令，以实现如权利要求1-6中任一项所述地层压力约束的裂缝密度预测方法。