[发明专利]一种晶闸管级均压与阻尼元件参数测量方法

权利要求书

1.一种晶闸管级均压与阻尼元件参数测量方法，其特征在于，包括以下步骤：

S1：对待测的相邻两个晶闸管级分别施加直流信号，并分别测得直流电阻值；

S2：对待测的相邻两个晶闸管级串联后的整体施加直流信号，测得直流电阻值；

S3：根据阻抗测量数据以及方程组通过牛顿拉夫逊法求解均压元件参数并保存；

S4：对待测的相邻两个晶闸管级分别施加交流信号，并分别测得阻抗模与阻抗角；

S5：对待测的相邻两个晶闸管级串联后的整体施加交流信号，测得阻抗模与阻抗角；

S6：根据阻抗模与阻抗角测量数据及方程组通过牛顿拉夫逊法求解均压与阻尼元件并联的综合阻抗参数并保存；

S7：根据综合阻抗参数以及均压元件参数计算阻尼元件参数；

S8：输出测量结果。

2.如权利要求1所述的一种晶闸管级均压与阻尼元件参数测量方法，其特征在于，计算均压元件参数的步骤包括：所述的步骤S1中，对相邻两个待测晶闸管级施加直流信号，分别测得直流电阻Rd1、Rd2，将两个晶闸管级的直流均压电阻记作RE1和RE2，其他元件构成的支路的直流电阻记为RD，得到两个方程：

在步骤S2中，对待测的两个晶闸管串联后的整体施加直流信号，测得直流电阻Rd3，可得方程：

联立上述3个方程通过牛顿拉夫逊法求解出3个未知量RE1、RE2和RD。

3.如权利要求2所述的一种晶闸管级均压与阻尼元件参数测量方法，其特征在于，计算均压与阻尼元件并联后的综合阻抗的步骤包括:所述的步骤S4中，对相邻两个待测晶闸管级施加交流信号，将第一个待测晶闸管级均压与阻尼元件并联后的综合阻抗记作ZV1 =RV1+j XV1，第二个待测晶闸管级均压与阻尼元件并联后的综合阻抗记作ZV2 =RV2+j XV2，其他元件构成的支路阻抗的等效阻抗记为ZA= RA+j XA，可得方程:

步骤S5中,对待测的两个晶闸管串联后的整体施加交流信号,得到方程：

联立上述6个方程通过牛顿拉夫逊法求解出6个未知量RV1、XV1、RV2、XV2、RA、XA。

4.如权利要求3所述的一种晶闸管级均压与阻尼元件参数测量方法，其特征在于，计算阻尼元件参数的步骤包括：

将两个晶闸管级的直流阻尼电容分别记作CB1和CB2，对应容抗分别记作XB1和XB2，阻尼电阻分别记作RB1和RB2，在步骤S7中，根据综合阻抗参数以及均压元件参数计算阻尼元件参数，

令，则第一个待测晶闸管的阻尼元件参数计算公式为

同理令，第二个待测晶闸管的阻尼元件参数计算公式为

至此可获得两个待测晶闸管级元件参数准确值，包括均压元件参数RE1、RE2以及阻尼元件参数CB1、CB2、RB1、RB2。

5.一种晶闸管级均压与阻尼元件参数测量方法，其特征在于，包括以下步骤：

S1：对待测的相邻两个晶闸管级分别施加交流信号，并分别测得阻抗模与阻抗角；

S2：对待测的相邻两个晶闸管级串联后的整体施加交流信号，测得阻抗模与阻抗角；

S3：根据阻抗模与阻抗角测量数据及方程组通过牛顿拉夫逊法求解均压与阻尼元件并联的综合阻抗参数并保存；

S4：对待测的相邻两个晶闸管级分别施加直流信号，并分别测得直流电阻值；

S5：对待测的相邻两个晶闸管级串联后的整体施加直流信号，测得直流电阻值；

S6：根据阻抗测量数据以及方程组通过牛顿拉夫逊法求解均压元件参数并保存；

S7：根据综合阻抗参数以及均压元件参数计算阻尼元件参数；

S8：输出测量结果。