[发明专利]一种基于条纹修复的高动态三维测量方法在审

专利信息
申请号: 202310158041.2 申请日: 2023-02-23
公开(公告)号: CN115993100A 公开(公告)日: 2023-04-21
发明(设计)人: 李洪儒;韦豪;刘江涛;邓国亮 申请(专利权)人: 四川大学
主分类号: G01B11/25 分类号: G01B11/25
代理公司: 深圳众邦专利代理有限公司 44545 代理人: 张莹莹
地址: 610000 四*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 条纹 修复 动态 三维 测量方法
【权利要求书】:

1.一种基于条纹修复的高动态三维测量方法,其特征在于,包括以下步骤:

S1:向高反光表面投影四幅灰度正弦条纹图,CCD采集变形饱和条纹;

S2:将拍摄的图像分为,可靠区域、浅饱和区域和深饱和区域,用四幅饱和条纹图计算出可靠区域,并计算出可靠区域的A参数;

S3:由于浅饱和区域和深饱和区域不能完美求解,对所有可靠区域膨胀和腐蚀,获得CSI和BSI区域来大致对应浅饱和区域和深饱和区域并利用CSI和BSI插值方法对CSI和BSI区域的A进行插值补全;

S4:利用条纹之间的关系,用修复的A以及没有饱和的条纹对饱和条纹进行修复,当条纹顶部饱和的部分被修复后,其余部分使用CSI插值方法来补全;

S5:当所有条纹被修复后使用四步相移法计算相位;

S6:使用互补格雷码方法求解级次并展开包裹相位。

2.根据权利要求1所述的基于条纹修复的高动态三维测量方法,其特征在于,所述S1的具体步骤如下:

S101:向高反光表面投影四幅灰度正弦条纹图,CCD采集变形饱和条纹,投影的四幅条纹图有的恒等相位差,拍摄到的图像也有的相位差,即,其中,N=4为相移步数,n=1,2,...,N为相移序号,A(x,y)为平均强度,B(x,y)为强度调制。化简后拍摄到的图像I1,I2,I3,I4表达式如下:

3.根据权利要求1所述的基于条纹修复的高动态三维测量方法,其特征在于,所述S2的具体步骤如下:

S201、对图像中的每个点,根据四幅相移图的饱和情况将其分为可靠区域、浅饱和区域和深饱和区域,如果拍摄的四幅相移图在某个点的值都小于255,或者只有一幅图的值大于等于255,那么这个点为可靠区域,如果四幅图在某个点有两幅图、三幅图或四幅图的值大于等于255,那么这个点就属于浅饱和区域或者深饱和区域,假定A′为实际的A参数,那么当A′<255时该点为浅饱和区域,当A′≥255时该点为深饱和区域;

S202、可靠区域的A参数可以直接求解,浅饱和区域和深饱和区域的A参数无法直接求解。

4.根据权利要求1所述的基于条纹修复的高动态三维测量方法,其特征在于,所述S3具体步骤如下:

S301、求解到可靠区域后,对可靠区域进行膨胀,膨胀距离应该超过条纹周期的一半,获得膨胀区域,然后对膨胀区域进行腐蚀,腐蚀距离应该大于膨胀距离,获得CSI区域;最后对CSI区域进行反转得到BSI区域,由于浅饱和区域和深饱和区域不能完美求解,获得CSI和BSI区域来大致对应浅饱和区域和深饱和区域;

S302、用CSI区域内的所有可靠点的A值为基础对CSI整个区域的A值进行插值补全,插值方法使用三次样条插值方法:cubic spline interpolation,简称为CSI插值方法。

S303、用BSI区域内所有可靠点的A值为基础对BSI整个区域的A值进行插值补全,插值方法使用双调和样条插值方法:biharmonic spline interpolation,简称为BSI插值方法。

5.根据权利要求1所述的基于条纹修复的高动态三维测量方法,其特征在于,所述S4具体步骤如下:

S401:四幅相移条纹当某个图像饱和时,饱和区域Ω的条纹修复值的修复公式如下:

S402:四幅饱和相移图像使用上面修复公式修复后,如果还存在饱和的位置,这些位置以全局的非饱和条纹值和修复的条纹值为基础,用CSI插值方法进行插值补全。

6.根据权利要求1所述的基于条纹修复的高动态三维测量方法,其特征在于,所述S5具体步骤如下:

S501:通过修复的四幅条纹图可以解得包裹相位:

通过上式获得的相位是包裹相位,要获得高度信息需要使用展开相位,绝对相位法可以将包裹相位展开。

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