[发明专利]模拟芯片的调试接口的系统、方法及应用

说明书

为了解决现有技术中，在对ATE设备进行芯片调试接口时，需要频繁的数据更新而导致实际执行效率低的问题，本发明提供了一种模拟芯片的调试接口的系统、方法以及应用，包括：输入模块、调试接口装置以及待测试芯片；其中，输入模块，用于输入调试指令；调试接口装置与所述输入模块进行数据交互，能够批量存储所述调试指令；待测试芯片与所述调试接口装置进行数据交互，能够根据任一所述调试指令与所述调试接口装置中生成对应的协议，对所述待测试芯片进行测试；本发明所述的系统，具有结构简单的优点，而且无需频繁更新数据到硬件的DIO单元中，可批量更新数据，统一触发传输，提升了ATE设备模拟芯片调试接口的执行效率。

技术领域

本发明涉及ATE设备领域，尤其涉及一种模拟芯片的调试接口的系统、方法及应用。

背景技术

自动化测试设备是一种通过计算机控制进行器件、电路板和子系统等测试的设备。通过计算机编程取代人工劳动，自动化的完成测试序列，已是全球半导体设备产业之中的重要组成部分。

自动化测试设备的应用场合涵盖集成电路整个产业链，主要包括了芯片的设计验证、晶圆制造相关的测试到封装完成后的最终成品测试；而在最终的测试环节，ATE设备在芯片测试过程中会使用调试接口(JTAG、SWD)验证芯片功能，并且需要验证调试接口(JTAG、SWD)本身；在ATE设备中，每块业务板上都会配置有两块FPGA，分别实现不同的功能。在实际应用中，FPGA在生产时的调试一般用JATG接口进行烧录、调试。而等到FPGA实际应用到产品中时，由于JATG接口操作过于复杂，一旦需要更新FPGA程序，则必须使用在线升级，将新的FPGA程序下载到Flash中，在一定的条件下，使得FPGA从Flash中加载新的FPGA程序，完成在线升级；

如图1所示的调试方法，使用仿真器和专用仿真软件，无法在ATE设备中使用；对于ATE设备的测试，现有都是采用如图2所示的DIO单元的Pattern文件来模拟调测接口：

如图3所示，在进行测试过程中，用户编写Pattern文件，即EditPattern，使用ATE设备的DIO单元来模拟调试接口；为了产生调试接口的具体数据，需要不断的更新Pattern文件，即不断通过软件接口进行UpdatePattern操作；

而在此过程中，更新Pattern文件需要通过软件接口进行UpdatePattern操作，不断的更新数据到硬件的DIO单元中；频繁的数据更新操作，导致实际执行效率低；比如通过调试接口更新芯片的flash中的bin文件，需要更新几百k次-几M次的数据；

一种高效的ATE设备测试方法亟待研发。

发明内容

为了克服现有技术的不足，本发明提供了一种模拟芯片的调试接口的系统、方法以及应用，用于解决前述技术问题中的至少一个。

具体地，其技术方案如下：

一种模拟芯片的调试接口的系统，包括：

输入模块，用于输入调试指令；

调试接口装置，与所述输入模块进行数据交互，用于批量存储所述调试指令；

待测试芯片，与所述调试接口装置进行数据交互，用于根据任一所述调试指令与所述调试接口装置中生成对应的协议，对所述待测试芯片进行测试。

所述调试接口装置，包括：

调试命令序列模块，与所述输入模块连接，用于批量写入至少2条所述调试指令；

协议生成模块，设置在所述调试命令序列模块与待测试芯片之间，用于持续读取调试命令序列模块内存储的所述调试指令，并与所述待测试芯片生成完成相关测试的相应的协议。

所述输入模块与所述协议生成模块连接，用于发送开始调试指令，使所述协议生成模块开始持续读取所述调试命令序列模块内存储的所述调试指令。