[发明专利]一种EMI电磁屏蔽材料测试设备

说明书

本发明公开了一种EMI电磁屏蔽材料测试设备，涉及电磁屏蔽材料测试设备技术领域，包括屏蔽箱本体，屏蔽箱本体下端固定安装有多个支撑底座，屏蔽箱本体前端固定安装有信号发生器控制器，位于信号发生器控制器上方位置的屏蔽箱本体前端活动安装有前盖门，前盖门中心位置开设有穿透通槽，前盖门前端位于穿透通槽位置开设有测试物放置槽，前盖门前端还固定安装有把手，位于测试物放置槽一侧的前盖门前端设有安装限位机构。借助在前盖门前端活动安装的C形固定架、连接架与第二连接杆、吸盘能够对不同厚度的检测样片进行初步的固定，并能够利于检测样片安装进测试物放置槽内，同时，也利于检测样片从测试物放置槽内的取出。

技术领域

本发明涉及电磁屏蔽材料测试设备技术领域，特别涉及一种EMI电磁屏蔽材料测试设备。

背景技术

电磁屏蔽材料主要就是利用屏蔽材料来进行阻隔电磁波传播的，电磁屏蔽的作用原理是利用反射的原理来进行对电磁的一个反射，或者是吸收等方法来阻挡电磁波，而电磁屏蔽材料检测方法有法兰同轴测试法、矢量网络分析仪法、屏蔽室窗口测试法、屏蔽暗箱窗口测试法、双TEM室测试法；

上述的屏蔽室窗口测试法是在一个屏蔽室中开一个窗口，在室内室外都需要安装一根电线，一个是发射电磁的天线，一个是接受的天线，并利用频谱仪进行检测分析；

在通过屏蔽室对电磁屏蔽材料进行检测时，会将电磁屏蔽材料修整为屏蔽室窗口大小的检测样片，并通过扣装或者螺栓夹具将检测样片置于窗口内，进而完成检测样片的安装，上述的检测样片安装方式，在针对不同厚度的检测样片时，需要对固定装置进行调节，向螺栓夹具则需要首先对夹具的位置进行调节，并调整夹具末端与检测样片之间的距离，造成检测样片的检测效率降低，同时，为其检测过程带来了不必要的流程，同时，内嵌式安装的检测样片也不利于在检测完成后便捷的取出。

发明内容

本发明的目的在于提供一种EMI电磁屏蔽材料测试设备，可以有效解决背景技术中的问题。

为实现上述目的，本发明采取的技术方案为：

一种EMI电磁屏蔽材料测试设备，包括屏蔽箱本体，所述屏蔽箱本体下端固定安装有多个支撑底座，所述屏蔽箱本体前端固定安装有信号发生器控制器，位于所述信号发生器控制器上方位置的屏蔽箱本体前端活动安装有前盖门，所述前盖门中心位置开设有穿透通槽，所述前盖门前端位于穿透通槽位置开设有测试物放置槽，所述前盖门前端还固定安装有把手，位于所述测试物放置槽一侧的前盖门前端设有安装限位机构，所述安装限位机构包括固定座与C形固定架，所述固定座固定安装在前盖门前端，所述固定座则固定安装在位于安装限位机构一侧的前盖门前端位置，所述安装限位机构内活动安装有连接架，所述连接架一端活动安装有第一连接杆，所述第一连接杆一端活动安装有第二连接杆，所述第二连接杆一端活动安装有吸盘，所述C形固定架内活动安装有滑块，所述滑块内活动安装有螺杆，所述螺杆一端活动安装有安装轴，所述安装轴一端活动安装有压球。

作为本发明的进一步优化方案，所述固定座内开设有安装槽。

作为本发明的进一步优化方案，所述连接架一端通过销轴转动安装在安装槽内，所述连接架另一端固定安装有第一连接块。

作为本发明的进一步优化方案，两个所述第一连接杆之间通过两个第二连接块固定连接，且位于两个所述第二连接块一侧的两个第一连接杆之间形成第一连接槽，所述第一连接杆通过一端的第一连接槽穿插安装在第一连接块上并通过销轴转动连接。

作为本发明的进一步优化方案，所述第二连接杆一端固定安装有第三连接块，所述第三连接块通过销轴转动安装在第一连接杆一侧的第一连接槽内，所述第二连接杆远离第三连接块的一端开设有第二连接槽。

作为本发明的进一步优化方案，所述吸盘相对于第二连接杆一侧固定安装有第四连接块，所述第四连接块上端与下端均固定安装有固定轴，且所述第四连接块通过两个固定轴转动安装在第二连接槽内。