[发明专利]一种故障检测方法、装置、电子设备和存储介质

权利要求书

1.一种故障检测方法，包括：

对待进行故障检测的硬件中待测单元芯片进行针对数据处理的加压处理；

监测所述待测单元芯片的运行状态；

基于监测结果，检测所述硬件是否存在故障。

2.根据权利要求1所述的方法，在所述监测所述待测单元芯片的运行状态之前，还包括：

将所述待测单元芯片对应的电压域的输出电压调整至最佳运行电压之外的电压。

3.根据权利要求2所述的方法，其中，所述将所述待测单元芯片对应的电压域的输出电压调整至最佳运行电压之外的电压，包括：

获得根据所述待测单元芯片的规格书确定的电压范围；

根据所述电压范围，将所述待测单元芯片对应的电压域的输出电压调整至最佳运行电压之外的电压。

4.根据权利要求3所述的方法，其中，所述根据所述电压范围，将所述待测单元芯片对应的电压域的输出电压调整至最佳运行电压之外的电压，包括：

将所述待测单元芯片对应的电压域的输出电压调整至所述电压范围的最大电压值或最小电压值。

5.根据权利要求3所述的方法，其中，所述根据所述电压范围，将所述待测单元芯片对应的电压域的输出电压调整至最佳运行电压之外的电压，包括：

根据所述电压范围，确定所述待测单元芯片对应的电压域的电压调整算法；

基于所述电压调整算法，将所述待测单元芯片对应的电压域的输出电压调整至最佳运行电压之外的电压。

6.根据权利要求1-5中任一项所述的方法，其中，所述对待进行故障检测的硬件中待测单元芯片进行针对数据处理的加压处理，包括：

根据待进行故障检测的硬件中待测单元芯片的芯片类型，确定针对数据处理进行加压处理的方式；

根据所确定的方式，对所述待测单元芯片进行加压处理。

7.根据权利要求1-5中任一项所述的方法，其中，

所述待测单元芯片为：基于所述硬件的架构确定的单元芯片。

8.一种故障检测装置，包括：

芯片加压处理模块，用于对待进行故障检测的硬件中待测单元芯片进行针对数据处理的加压处理；

运行状态检测模块，用于监测所述待测单元芯片的运行状态；

故障检测模块，用于基于监测结果，检测所述硬件是否存在故障。

9.根据权利要求8所述的装置，还包括：

电压调整模块，用于将所述待测单元芯片对应的电压域的输出电压调整至最佳运行电压之外的电压。

10.根据权利要求9所述的装置，其中，所述电压调整模块，包括：

电压范围确定单元，用于获得根据所述待测单元芯片的规格书确定的电压范围；

电压调整单元，用于根据所述电压范围，将所述待测单元芯片对应的电压域的输出电压调整至最佳运行电压之外的电压。

11.根据权利要求10所述的装置，其中，

所述电压调整单元，具体用于将所述待测单元芯片对应的电压域的输出电压调整至所述电压范围的最大电压值或最小电压值。

12.根据权利要求10所述的装置，其中，

所述电压调整单元，具体用于根据所述电压范围，确定所述待测单元芯片对应的电压域的电压调整算法；基于所述电压调整算法，将所述待测单元芯片对应的电压域的输出电压调整至最佳运行电压之外的电压。

13.根据权利要求8-12中任一项所述的装置，其中，

所述芯片加压处理模块，具体用于根据待进行故障检测的硬件中待测单元芯片的芯片类型，确定针对数据处理进行加压处理的方式；根据所确定的方式，对所述待测单元芯片进行加压处理。