[发明专利]扫描图像定量值的校正方法及装置、介质、设备在审

专利信息
申请号: 202310065773.7 申请日: 2023-01-12
公开(公告)号: CN116175969A 公开(公告)日: 2023-05-30
发明(设计)人: 孙智鹏;李明;刘勺连 申请(专利权)人: 东软医疗系统股份有限公司
主分类号: B29C64/336 分类号: B29C64/336;B29C64/314;B33Y40/00;B33Y40/10
代理公司: 北京中强智尚知识产权代理有限公司 11448 代理人: 宋然然
地址: 110167 辽宁*** 国省代码: 辽宁;21
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摘要:
搜索关键词: 扫描 图像 量值 校正 方法 装置 介质 设备
【权利要求书】:

1.一种扫描图像定量值的校正方法,其特征在于,包括:

获取当前用户的正电子发射断层扫描图像,在所述正电子发射断层扫描图像中确定目标病灶区域;

基于预设算法计算所述目标病灶区域的形态参数信息;

根据所述形态参数信息查询一维扩散系数对照表,确定所述目标病灶区域的恢复系数,并基于所述目标病灶区域的恢复系数对所述正电子发射断层扫描图像的定量值进行校正处理,所述一维扩散系数对照表是基于预先对预设模体进行正电子发射断层扫描得到的。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述基于预设算法计算所述目标病灶区域的形态参数信息,具体包括:

基于所述目标病灶区域所包含的各个像素点的坐标信息生成所述目标病灶区域的数据矩阵;

对所述数据矩阵进行数据中心化处理,生成中心化数据矩阵;

基于所述中心化数据矩阵生成协方差矩阵;

根据预设分解算法将所述协方差矩阵进行对角化处理,生成坐标旋转矩阵;

基于所述坐标旋转矩阵将所述中心化数据矩阵中所包含的坐标信息进行旋转处理,以确定所述目标病灶区域的形态参数信息。

3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述预设模体包括多个不同尺寸的计算腔体、多个验证腔体以及多个定位点位。

4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述获取当前用户的正电子发射断层扫描图像之前,所述方法还包括:

对预设模体进行正电子发射断层扫描,得到所述预设模体的正电子发射断层扫描图像;

基于所述预设模体的正电子发射断层扫描图像获取各个所述计算腔体的活性浓度信息、各个所述验证腔体的活性浓度信息以及模体背景的活性浓度信息,所述模体背景用于表征所述预设模体内除所述计算腔体、所述验证腔体、所述定位点位外的部分;

分别基于各个所述计算腔体的活性浓度信息以及所述模体背景的活性浓度信息确定多个所述计算腔体的恢复系数,并分别基于多个所述计算腔体的恢复系数确定不同尺寸的计算腔体的一维扩散系数,生成初始一维扩散系数对照表;

根据所述初始一维扩散系数对照表确定各个所述验证腔体的第一恢复系数;

分别基于各个所述验证腔体的活性浓度信息以及所述模体背景的活性浓度信息确定多个所述验证腔体的第二恢复系数,并基于所述第二恢复系数与所述第一恢复系数之间的偏差对所述初始一维扩散系数对照表进行修正处理,生成一维扩散系数对照表。

5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述基于所述第二恢复系数与所述第一恢复系数之间的偏差对所述初始一维扩散系数对照表进行修正处理,具体包括:

计算各个所述验证腔体的第二恢复系数与第一恢复系数之间的第一偏差,并将各个所述验证腔体的第一偏差进行加和处理,得到所有验证腔体的第一偏差总和;

获取第二偏差总和,将所述第一偏差总和以及所述第二偏差总和进行加和处理,得到所有验证腔体的第三偏差总和,所述第二偏差总和用于表征所有所述计算腔体的测量恢复系数与计算恢复系数之间的偏差的总和;

基于最小目标函数对所述第三偏差总和进行优化处理,以生成一维扩散系数对照表。

6.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述基于所述预设模体的正电子发射断层扫描图像获取各个所述计算腔体的活性浓度信息、各个所述验证腔体的活性浓度信息以及模体背景的活性浓度信息之前,所述方法还包括:

基于多个所述定位点位确定所述预设模体的正电子发射断层扫描图像与扫描设备视野中心的位置关系;

根据所述位置关系将所述预设模体的模板图像进行位置调整处理,以使得所述预设模体的模板图像与所述预设模体的正电子发射断层扫描图像重合。

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