[发明专利]一种多路子ADC采样电路、半导体器件及信号处理装置

权利要求书

1.一种多路子ADC采样电路，其特征在于，包括：

第一采样组，包括两个或以上数量的子ADC采样模块；所述第一采样组接入第一采样时钟；

第二采样组，包括一个子ADC采样模块；所述第二采样组接入第二采样时钟；所述第一采样时钟与所述第二采样时钟交替输出；

各所述子ADC采样模块的输入端均与所述多路子ADC采样电路的输入端电连接；

逻辑电路模块，各所述子ADC采样模块的输出端均与所述逻辑电路模块电连接，所述逻辑电路模块的输出端与所述多路子ADC采样电路的输出端电连接；所述逻辑电路模块用于将各所述子ADC采样模块输出的采样信号进行拼接后输出；

PRBS产生电路模块，与各所述子ADC采样模块电连接；所述PPBS产生电路模块用于随机选择所述第一采样组中的一个用于采样的所述子ADC采样模块，以及选择所述第二采样组中用于采样的所述子ADC采样模块。

2.根据权利要求1所述的多路子ADC采样电路，其特征在于，所述第一采样时钟对应于所述第一采样组中包括的所述子ADC采样模块，所述子ADC采样模块对应的第一采样时钟固定，所述子ADC采样模块的工作时序相同。

3.根据权利要求1所述的多路子ADC采样电路，其特征在于，当所述第一采样时钟进行到采样进程，所述PPBS产生电路模块会随机选出所述第一采样组中的一个子ADC采样模块进行采样，所述第一采样组中其余没有选中进行采样的子ADC采样模块继续完成其内部数据处理工作。

4.根据权利要求1所述的多路子ADC采样电路，其特征在于，所述第二采样组包括两个或以上数量的子ADC采样模块，所述第二采样时钟对应于所述第二采样组中包括的所述子ADC采样模块，所述子ADC采样模块所对应的第二采样时钟固定，所述子ADC采样模块的工作时序相同。

5.根据权利要求4所述的多路子ADC采样电路，其特征在于，当所述第二采样时钟进行到采样进程，所述PPBS产生电路模块会随机选出所述第二采样组中的一个子ADC采样模块进行采样，所述第二采样组中其余没有选中进行采样的子ADC采样模块则继续完成其内部数据处理工作。

6.根据权利要求1所述的多路子ADC采样电路，其特征在于，还包括第三采样组；

所述第三采样组包括一个子ADC采样模块；所述第三采样组接入第三采样时钟，所述第三采样组与所述第一采样组并联连接；所述第一采样时钟、所述第二采样时钟和所述第三采样时钟随机交替输出；所述PRBS产生电路模块还用于选择所述第三采样组中用于采样的所述子ADC采样模块。

7.根据权利要求1所述的多路子ADC采样电路，其特征在于，所述多路子ADC采样电路输出的交织采样的种类等于各所述采样组包括的子ADC采样模块的个数之间的乘积。

8.根据权利要求1所述的多路子ADC采样电路，其特征在于，所述子ADC采样模块包括开关和子ADC采样电路；

所述开关和所述子ADC采样电路串联于所述多路子ADC采样电路的输入端和输出端之间；所述PRBS产生电路模块与各所述开关电连接，所述PRBS产生电路模块通过控制所述开关的导通来选择所述子ADC采样电路。

9.一种半导体器件，其特征在于，包括：权利要求1-8任一项所述的多路子ADC采样电路。

10.一种信号处理装置，其特征在于，包括权利要求9所述的半导体器件。