[发明专利]一种利用相位衍射元件实现干法全息光刻方法及系统在审

专利信息
申请号: 202310040139.8 申请日: 2023-01-13
公开(公告)号: CN116047870A 公开(公告)日: 2023-05-02
发明(设计)人: 赵东;黄坤 申请(专利权)人: 中国科学技术大学
主分类号: G03F7/20 分类号: G03F7/20;G02B27/00
代理公司: 北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 代理人: 安丽
地址: 230026 安*** 国省代码: 安徽;34
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摘要:
搜索关键词: 一种 利用 相位 衍射 元件 实现 全息 光刻 方法 系统
【权利要求书】:

1.一种相位衍射元件的优化方法,其特征在于,实现如下:

随机改变相位衍射元件输入面任一像素(xn,yn)的相位,即相位由0变为π或由π变为0,若相位衍射元件输出面全息图像的成本函数CF的数值减小,则更新像素(xn,yn)的相位,否则不更新像素(xn,yn)的相位;利用同样的成本函数CF优化相位衍射元件其他所有位置的相位,即得到优化后相位衍射元件的相位,从而完成相位衍射元件的优化。当输出面全息图像改变时,使用同样的相位衍射元件优化方法,相位衍射元件的相位也会发生相应改变;

所述相位衍射元件输出面全息图像的成本函数CF定义为CF=RMSE+k·SD,式中RMSE为方均根误差,SD为标准差,式中,In为整个输出面全息图像上第n个像元处的强度,共有N个像素;为全息图像振幅为1区域的平均强度,Im为全息图像区域第m个像元处的强度,共有M个像素;Iideal为理想全息图像的强度;k为标准差SD的权重。

2.根据权利要求1所述的相位衍射元件的优化方法,其特征在于:所述k在0-3之间变动;当输出面全息图像整体尺寸小于输入面整体尺寸时,k的值相应较小,可在0-1之间变动。

3.一种利用相位衍射元件实现干法全息光刻方法,其特征在于:利用根据权利要求1所述的相位衍射元件优化方法得到相位掩膜,用于相位衍射元件加工,经过全息光刻及显影即实现相位衍射元件的干法全息光刻。

4.一种利用相位衍射元件实现干法全息光刻的系统,其特征在:所述系统的光路包括紫外光源、准直光路、采用权利要求1所述的优化后的相位衍射元件、光电开关和涂满光刻胶的基片以及电位移台;紫外光源输出的激光经过准直光路后,变为平行光束照射到相位衍射元件上,其中,在相位衍射元件前使用光电开关控制光刻曝光时间,平行光照射在相位衍射元件上会携带附加的位相信息,继续向前衍射传输,在设定的菲涅尔衍射区域形成全息图像,对电位移台上固定着匀上光刻胶的基片进行曝光,实现相位衍射元件的干法全息光刻。

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