[发明专利]一种多通道光缆测试系统及方法

说明书

本发明提供了一种多通道光缆测试系统，其包括电脑、激光器、分光耦合器、第一光功率计、第二光功率计、OTDR光时域反射仪、光开关、转接光缆以及被测光缆，分光耦合器包括输入端、第一输出端、第二输出端，光开关包括第一输入口、第二输入口以及若干输出通道，激光器连接所述分光耦合器的输入端，分光耦合器的第一输出端连接第一光功率计，第二输出端连接光开关的第一输入口，转接光缆包括与若干输出通道相对应连接的若干光缆以及连接若干光缆的连接器，被测光缆包括第一连接器、第二连接器以及位于二者之间的若干光缆。本发明利用光开关自动切换光通道实现多通道光缆插损及回损测试，提高测试效率，测试波长多、应用范围广泛，误差小。

【技术领域】

本发明涉及光缆测试领域，尤其涉及一种多通道光缆测试系统及方法。

【背景技术】

在光缆测试领域，多通道光缆的连接头封装是光缆生产成品化过程中的关键问题，多通道光缆的插损与回损指标测试也是至关重要的一步步骤，现有的多通道光缆测试系统大部分是依靠国外成套设备进行专用的对应指标测试。具体的，所有的测试设备通过光纤设备连接线等连接成一个测试站进行固定化的插损测试或者回损测试。靠专用设备进行单独功能的指标测试，具有设备成本高、连接头适用范围小、测试波长单一、应用范围窄等弊端，并且效率较低、成本较高、灵活性不佳。

CN103630331B号专利公开了一种多通道光纤插回损测试仪及测试校准方法，其包括光源组、多个光分路器、偏振控制器、内置探测器多路光功率计、主控器、主控器线路连接的外置探测器参考光功率计。所述多通道光纤插回损测试仪的测试端口有限，当用于多通道光缆例如24通道、48通道光缆进行测试时，测试效率非常低。并且该专利仅公开了插损的测试方法，并没有公开回损的测试方法。

因此，实有必要提供一种新的多通道光缆测试系统及方法以解决上述技术问题。

【发明内容】

本发明的目的在于提供一种测试效率高、应用范围广的多通道光缆测试系统及方法，以解决相关技术中的问题。

为了达到上述目的，本发明提供了一种多通道光缆测试系统，其包括电脑、激光器、分光耦合器、第一光功率计、第二光功率计、OTDR光时域反射仪、光开关、转接光缆以及被测光缆，所述分光耦合器包括输入端、第一输出端、第二输出端，所述光开关包括第一输入口、第二输入口以及若干输出通道，所述激光器连接所述分光耦合器的输入端，所述分光耦合器的第一输出端连接所述第一光功率计，所述第二输出端连接所述光开关的第一输入口，所述转接光缆包括与所述若干输出通道相对应连接的若干光缆以及连接所述若干光缆的连接器，所述被测光缆包括第一连接器、第二连接器以及位于二者之间的若干光缆。

更优地，所述电脑分别连接所述激光器、所述第一光功率计、所述第二光功率计、所述OTDR光时域反射仪、所述光开关。

更优地，所述若干输出通道的数量为48。

更优地，所述被测光缆的若干光缆的数量为12、16、24、32、48中任一种。

更优地，所述第一连接器、所述第二连接器为FC连接器、LC连接器、ST连接器、SC连接器、MTP连接器中任两种。

更优地，所述激光器的输出波长为850nm、1300nm、1310nm、1550nm中的任一种。

为了达到上述目的，本发明还提供了一种多通道光缆测试方法，其应用所述一种多通道光缆测试系统，其包括校准步骤以及测试步骤，所述校准步骤包括：

S1，令所述转接光缆的连接器连接所述第二光功率计，在所述电脑中设置待测波长；

S2，所述电脑向所述激光器发送切换波长请求，所述电脑向所述光开关发送切换通道请求，所述光开关按照预设的通道顺序切换通道，切换到第i通道，所述电脑读取所述第一光功率计的功率值PD1_i、所述第二光功率计的功率值PD2_i，所有的通道都校准完毕；