[发明专利]测量大气甲烷柱浓度和水汽廓线的激光雷达系统在审
申请号: | 202310003204.X | 申请日: | 2023-01-03 |
公开(公告)号: | CN116047542A | 公开(公告)日: | 2023-05-02 |
发明(设计)人: | 陈卫标;吴子童;刘继桥;李世光;竹孝鹏;王明建;万渊;臧华国 | 申请(专利权)人: | 中国科学院上海光学精密机械研究所 |
主分类号: | G01S17/95 | 分类号: | G01S17/95;G01S7/484;G01S7/486 |
代理公司: | 上海恒慧知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31317 | 代理人: | 张宁展 |
地址: | 201800 *** | 国省代码: | 上海;31 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 测量 大气 甲烷 浓度 水汽 激光雷达 系统 | ||
1.一种测量大气甲烷柱浓度和水汽廓线浓度的激光雷达系统,包括激光发射模块、回波接收模块和数据采集与处理模块,其特征在于,
所述的激光发射模块,包括:1645nm在线种子激光器(1)、第一1645nm离线种子激光器(2)、第二1645nm离线种子激光器(3)、1064nm泵浦激光器(4)、激光器锁频模块(5)、光参量振荡器(6)、倍频模块(7)和发射光学组件(8);所述的1645nm在线种子激光器(1)、第一1645nm离线种子激光器(2)和第二1645nm离线种子激光器(3)输出种子光,并注入所述的光参量振荡器(6)作为起振种子光,所述的1064nm泵浦激光器(4)输出1064nm泵浦光注入所述的光参量振荡器(6)作为泵浦源;所述的激光器锁频模块(5)的输出端与所述的光参量振荡器(6)第二输入端相接,通过动态调节腔长锁定所需的频率;所述的光参量振荡器(6)产生的1645nm脉冲光,进入所述的倍频模块(7)产生822nm倍频激光和剩余的1645nm基频光,经所述的发射光学组件(8)大部分进入大气;小部分进入积分球模块(9),用于监测剩余1645nm基频脉冲能量E1on0、E1off0;
所述的回波接收模块,包括光学接收望远镜组件(10)、分光镜(11)、第一滤光器组件(12)、第二滤光器组件(13)、第一光电探测器(14)和第二光电探测器(15);经过大气吸收的激光回波信号进入所述的光学接收望远镜组件(10)接收,所述的分光镜(11)将所述的激光回波信号分为两路,即1645nm信号光和822nm信号光,所述1645nm信号光经过所述的第一滤光器组件(12)后被所述的第一光电探测器(14)接收E1on、E1off,所述822nm信号光经过所述的第二滤光器组件(13)后被所述的第二光电探测器(15)接收Pon、Poff;
所述的数据采集与处理模块(16)与所述回波接收模块相连,负责激光雷达系统后续数据采集与运算:
甲烷柱浓度
水汽在激光路径不同位置处的浓度
式中:为甲烷的差分光学厚度IWF为甲烷的权重函数沿路径的积分;σon、σoff为水汽在online和offline处的吸收截面,ΔR=R2-R1,R1、R2为激光路径上任意两点与雷达的距离。
2.根据权利要求1所述的测量大气甲烷柱浓度和水汽廓线浓度的激光雷达系统,其特征在于,所述的1645nm在线种子激光器(1)、第一1645nm离线种子激光器(2)和第二1645nm离线种子激光器(3)需输出三个波长相差很小且分别位于甲烷1645nm吸收峰和吸收谷处的种子光,该种子光具有高频率稳定性、功率较低的连续波。
3.根据权利要求1所述的测量大气甲烷柱浓度和水汽廓线浓度的激光雷达系统,其特征在于,所述的光参量振荡器(6)与上述种子激光器和所述的1064nm泵浦激光器(4)构成种子注入的光参量振荡器,产生窄线宽的放大脉冲激光。
4.根据权利要求1所述的测量大气甲烷柱浓度和水汽廓线浓度的激光雷达系统,其特征在于,所述的激光器锁频模块(5)通过种子激光和所述的光参量振荡器(6)的输出拍频检测控制压电陶瓷动态调节腔长,将输出激光精准锁定。
5.根据权利要求1所述的测量大气甲烷柱浓度和水汽廓线浓度的激光雷达系统,其特征在于,所述的激光发射模块中,根据甲烷1645nm和水汽822nm吸收线的倍频关系,采用所述的倍频模块(7)代替种子光、谐振腔等产生822nm的激光。
6.根据权利要求1所述的测量大气甲烷柱浓度和水汽廓线浓度的激光雷达系统,其特征在于,所述的分光镜(11)分别将回波中1645nm波段信号和822nm波段信号光分为两路,分别对应水汽和甲烷的探测通道。
7.根据权利要求1所述的测量大气甲烷柱浓度和水汽廓线浓度的激光雷达系统,其特征在于,所述的第一滤光器组件(12)、第二滤光器组件(13)分别将水汽和甲烷探测通道收集的信号中的太阳背景光等杂光滤除。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院上海光学精密机械研究所,未经中国科学院上海光学精密机械研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202310003204.X/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种触控识别方法及装置、电子设备、存储介质
- 下一篇:一种镜头模组及电子设备