[实用新型]芯片检测承载装置及样本分析仪

权利要求书

1.一种芯片检测承载装置，其特征在于，包括固定框、安装在固定框顶部的调节板和安装在调节板上的载台；所述调节板上设置有安装槽；所述载台与安装槽对齐；所述载台的一端设置有至少两个限位块，另一端设置有支柱；与所述限位块相对的调节板上设置有微调螺杆。

2.根据权利要求1所述的芯片检测承载装置，其特征在于，所述载台的两端均相对设置有拉簧圆柱销；与所述拉簧圆柱销相对的调节板上均设置有固定吊销；所述拉簧圆柱销与固定吊销之间通过拉簧连接。

3.根据权利要求2所述的芯片检测承载装置，其特征在于，所述载台包括安装座、上端盖和导热座；所述安装座包括前安装座和后安装座；所述上端盖的一端安装在前安装座上，另一端安装在后安装座上；所述导热座安装在上端盖的顶部；所述拉簧圆柱销设置在安装座的两侧；所述导热座与安装槽对齐；所述限位块设置在前安装座上；所述支柱安装在后安装座上。

4.根据权利要求3所述的芯片检测承载装置，其特征在于，所述上端盖的底部设置有下端盖；所述上端盖和导热座之间设置有导热装置；所述安装座上设置有固定座。

5.根据权利要求4所述的芯片检测承载装置，其特征在于，所述固定座上设置有贯穿固定座的通道；所述通道内安装有为芯片提供检测试剂的试剂管道；所述芯片放置在导热座后，芯片上的芯片流道与试剂管道导通。

6.根据权利要求4所述的芯片检测承载装置，其特征在于，所述固定座上设置有用于放置压缩弹簧的弹簧槽；所述固定座通过导向轴穿过弹簧槽内的压缩弹簧固定在安装座上。

7.根据权利要求4所述的芯片检测承载装置，其特征在于，所述上端盖的底部设置有凹槽；所述凹槽密封在上端盖和下端盖之间；所述凹槽内设置有S型流道；所述S型流道两端对应的下端盖处设置有液路管接头。

8.根据权利要求3所述的芯片检测承载装置，其特征在于，所述导热座的上端面设置有真空槽；所述导热座两端的真空槽内设置有真空孔；所述上端盖内设置有真空通道；所述真空孔一端与真空槽导通，另一端与真空通道导通。

9.根据权利要求8所述的芯片检测承载装置，其特征在于，所述真空槽与芯片流道两侧的密封胶条对应，且宽度小于芯片流道密封胶条的宽度。

10.一种样本分析仪，其特征在于，包括权利要求1-9任意一项所述的承载装置。