[实用新型]一种测试模组有效
申请号: | 202223341248.3 | 申请日: | 2022-12-13 |
公开(公告)号: | CN219574347U | 公开(公告)日: | 2023-08-22 |
发明(设计)人: | 陶洋;陶柳 | 申请(专利权)人: | 苏州恩斯贝电子科技有限公司 |
主分类号: | G01R31/66 | 分类号: | G01R31/66;G01R1/04 |
代理公司: | 深圳市恒程创新知识产权代理有限公司 44542 | 代理人: | 龚秀亮 |
地址: | 215000 江苏省苏州市*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 测试 模组 | ||
本实用新型公开一种测试模组,其中,测试模组包括底座、若干测试弹片以及浮动板,底座的顶面开设有若干贯通至底面的安装通道,若干安装通道分为两组,两组安装通道沿底座的宽度方向并排设置,每组安装通道中的多个安装通道沿底座长度方向依次间隔设置。每一测试弹片穿设于一安装通道内,测试弹片的一端凸出底座的顶面设置,另一端凸出底座的底面设置,测试弹片包括两相对设置的弹片单元。浮动板设于底座上方,浮动板设有与若干弹片单元一一对应的若干导向孔,每一弹片单元的端部穿设于一导向孔,以使每一测试弹片中的两弹片单元相互隔离设置。本实用新型技术方案旨在提高测试模组的测试精度。
技术领域
本实用新型涉及测试装置技术领域,特别涉及一种测试模组。
背景技术
随着人们对电子产品的质量要求越来越高,连接器(比如BTB连接器、FPC连接器等)越来越向小pitch、低高度、多pin数的方向发展,对连接器测试装置的要求也越来越高。目前连接器的测试装置多采用常规测试,即两个测试点之间设置一根测试针,测试针两头分别连接至被测及转接板的两端。但是,电路中存在线材的电阻和探针接触电阻,接触电阻可能会在几十毫欧到几百毫欧级别,线材的电阻不确定,跟线长及线的粗细有关系,大概也在毫欧及欧姆级别。当测量的电阻很小,只有几欧姆,甚至毫欧级别时,常规测试是无法得到精确的测量结果的。因此,采用常规测试的测试装置已经逐渐无法满足连接器的测试要求。
上述内容仅用于辅助理解本申请的技术方案,并不代表承认上述内容是现有技术。
实用新型内容
本实用新型的主要目的是提供一种测试模组,旨在解决目前连接器的测试装置使用传统的测试方式无法避免转接板布线及测试探针接触电阻等误差的问题,能够提高测试模组的测试精度。
为实现上述目的,本实用新型提出的测试模组,用于导通待测连接器和PCB转接板,包括:
底座,所述底座的顶面开设有若干贯通至底面的安装通道,若干所述安装通道分为两组,两组安装通道沿所述底座的宽度方向并排设置,每组安装通道中的多个所述安装通道沿所述底座长度方向依次间隔设置;
若干测试弹片,每一所述测试弹片穿设于一所述安装通道内,以相互隔离,所述测试弹片的一端凸出所述底座的顶面设置,用于与待测连接器连接,另一端凸出所述底座的底面设置,用于与PCB转接板连接,所述测试弹片包括两相对设置的弹片单元;以及
浮动板,所述浮动板设于所述底座上方,所述浮动板设有与若干所述弹片单元一一对应的若干导向孔,每一所述弹片单元的端部穿设于一所述导向孔,以使每一所述测试弹片中的两所述弹片单元相互隔离设置。
可选地,所述弹片单元具有定位部,所述定位部与所述浮动板或所述底座卡接,用于防止所述弹片单元压弯变形。
可选地,所述弹片单元包括
弹性中部;
第一导电部,所述第一导电部与所述弹性中部的上端连接,所述第一导电部凸出所述底座的顶面设置并穿设于所述导向孔,用于接触所述待测连接器;
第二导电部,所述第二导电部与所述弹性中部的下端连接,所述第二导电部凸出所述底座的底面设置,用于接触所述PCB转接板;以及
定位部,所述定位部与所述弹性中部连接。
可选地,所述定位部与所述弹性中部的上端连接,所述定位部的端部所在平面低于所述第一导电部的端部所在平面;
所述浮动板还设有与所述定位部对应的定位槽,所述定位部插设于对应的所述定位槽中。
可选地,所述定位部与所述弹性中部的下端连接,所述定位部的端部所在平面低于所述第二导电部的端部所在平面;
所述底座还设有与所述定位部对应的定位槽,所述定位部插设于对应的所述定位槽中。
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