[实用新型]一种型材断面线扫测量设备

说明书

本实用新型公开一种型材断面线扫测量设备，包括机箱，控制装置，机箱内设置有检测平台，检测平台上通过防尘罩划分成第一空间和第二空间；第一空间内设置有线扫相机、线扫镜头；线扫相机安装在所述机箱内侧壁，线扫镜头通过镜头支架安装在与所述线扫相机对应的一侧；所述防尘罩与所述线扫镜头的X轴向检测面对应的位置开设有与第二空间连通的条形检测孔。所述第二空间内设置有高亮线光源、两Y轴向直线电机、U形底座。U形底座固定安装在检测平台上，所述U形底座沿其长度方向的相对两侧均设置有高精度直线导轨，两侧高精度直线导轨均滑动连接有Y轴向直线电机。在Y轴向运动的时候，确保检测精度的基础上，可对型材的断面进行高精度测量。

技术领域

本实用新型涉及线扫测技术领域，具体公开了一种型材断面线扫测量设备。

背景技术

中国专利授权公告号为CN208751554U，授权公告日为2019年01月14日，提供了一种新型高精度视觉测试运动平台，包括工作底座，所述的工作底座上设有工作台，所述的工作台上设有滑轨，所述的滑轨上设有直线电机，所述的直线电机上设有运动载台，所述工作台两侧设有对称的圆柱支架，所述的圆柱支架上套设有可上下移动的滑块，所述滑块的一侧设有用于顶住圆柱支架的手动螺柱，所述两个相对称的滑块之间设有支撑板，所述支撑板的一侧设有与其垂直的卡板，所述卡板的凸块上卡设有支撑块。该技术存在的缺陷是：1、不能测量产品的断面；2、待测物随意放置在运动载台上，导致每次放置的位置均存在偏差，影响测试精度。鉴于这种情况，亟待改善。

实用新型内容

基于此，有必要针对现有技术问题，提供一种型材断面线扫测量设备，确保检测精度的基础上，可对型材的断面进行高精度测量。

为解决现有技术问题，本实用新型公开一种型材断面线扫测量设备，包括机箱，控制装置，所述机箱内设置有检测平台，所述检测平台上通过防尘罩划分成第一空间和第二空间；所述第一空间内设置有线扫相机、线扫镜头；所述线扫相机安装在所述机箱内侧壁，所述线扫镜头通过镜头支架安装在与所述线扫相机对应的一侧；所述防尘罩与所述线扫镜头的X轴向检测面对应的位置开设有与所述第二空间连通的条形检测孔。

所述第二空间内设置有高亮线光源、两Y轴向直线电机、U形底座；所述U形底座固定安装在所述检测平台上，所述U形底座沿其长度方向的相对两侧均设置有高精度直线导轨，两侧所述高精度直线导轨均滑动连接有所述Y轴向直线电机；两侧所述Y轴向直线电机的滑块之间连接有横跨所述U形底座的连接板，所述连接板上设置有测试承放板；所述检测平台上表面并且位于U形底座的一侧与所述条形检测孔对应的位置通过安装支架设置有高亮线光源；所述高亮线光源的出光面靠向所述X轴向检测面设置。

进一步，所述连接板靠向所述防尘罩的一侧沿其长度方向设置有透明玻璃定位隔板。

进一步，所述测试承放板远离入料口的一侧设置有限位部，所述测试承放板靠向入料口的一侧安装有第一气缸安装座，所述第一气缸安装座上靠向所述限位部的一侧安装有定位气缸。

进一步，所述测试承放板从入料口一侧包括依次线性排列设置的第一承放段、第二承放段、第三承放段；所述第一承放段、第二承放段、第三承放段的上表面均沿其长度方向均匀线性阵列凸设有多个承放凸条；所述第一承放段上的相邻两承放凸条之间的宽度设置A，所述第二承放段上的相邻两承放凸条之间的宽度设置B，所述第三承放段上的相邻两承放凸条之间的宽度设置C，A＞B＞C。

进一步，所述U形底座远离所述防尘罩的一侧沿其长度方向的相对两侧分别设置有第二定位气缸座和第三定位气缸座，所述第二定位气缸座靠向入料口一侧设置；所述第二定位气缸座和第三定位气缸座均相向设置有定位气缸；靠向所述第二定位气缸座和第三定位气缸座一侧的所述Y轴向直线电机中部的下表面设置有与所述第二定位气缸座和第三定位气缸座的定位气缸配合的限位凸块。

进一步，所述U形底座的内腔沿其长度方向设置有与所述高精度直线导轨对应的金属光栅尺；所述金属光栅尺的分辨率设置为0.1um。