[实用新型]一种兼容不同内存的测试诊断治具

说明书

本实用新型实施例公开了一种兼容不同内存的测试诊断治具，包括一电路板，电路板的上方设有用于传输DDR3内存信号的第一金手指，电路板的下方设有用于传输DDR4内存信号的第二金手指，电路板的正面设有供电电路和用于灯光指示内存信号的连接状态的第一灯光控制电路，电路板的反面设有用于灯光指示内存信号的连接状态的第二灯光控制电路；供电电路连接第一灯光控制电路和第二灯光控制电路，第一灯光控制电路连接第一金手指和第二金手指，第二灯光控制电路连接第一金手指和第二金手指，第一金手指或第二金手指插入待测主板上的内存插槽中。将不同的金手指插入内存插槽就能对相应的内存进行测试，解决了现有内存测试诊断治具不能兼容测试的问题。

技术领域

本实用新型涉及电子技术领域，尤其涉及一种兼容不同内存的测试诊断治具。

背景技术

SO-DIMM(Small Outline Dual In-line Memory Module)内存条，即是小型双列直插式内存模块，它是一种类型的计算机内存模组。相对于DIMM内存条来说，SO-DIMM内存条具有更小的外形尺寸(大概是正常DIMM内存条尺寸的一半)。因此，SO-DIMM内存条主要用于笔记本电脑之类的对内存尺寸有较高要求的终端设备中。

现有SO-DIMM内存条的类型包括DDR3内存(SO-DIMM DDR3)和DDR4内存(SO-DIMMDDR4)，两者的结构设计存在区别，例如DDR4内存接口与DDR3不同，导致DDR4内存的金手指触点达到了284个，每一个触点间距只有0.85mm；而DDR3内存的金手指触点是240个，间距1mm。DDR4内存的金手指部分设计成了中间稍突出，边缘收矮的形状，在中央的高点和两端的低点以平滑曲线过渡；导致DDR4内存是弯曲效果且DDR4内存的防呆口位置与DDR3内存比较起来更靠中间一点。

由于DDR3内存与DDR4内存的结构不同，目前市面上大多都是单一的SO-DIMM内存测试诊断治具，只能对DDR3内存或DDR4内存单独进行测试，不能同时兼容DDR3内存和DDR4内存。

实用新型内容

针对上述技术问题，本实用新型实施例提供了一种兼容不同内存的测试诊断治具，以解决现有内存测试诊断治具不能兼容DDR3内存和DDR4内存的问题。

本实用新型实施例提供一种兼容不同内存的测试诊断治具，插入待测主板上的内存插槽中，其包括一电路板，所述电路板的上方设有用于传输DDR3内存信号的第一金手指，电路板的下方设有用于传输DDR4内存信号的第二金手指，电路板的正面设有供电电路和用于灯光指示内存信号的连接状态的第一灯光控制电路，电路板的反面设有用于灯光指示内存信号的连接状态的第二灯光控制电路；所述供电电路连接第一灯光控制电路和第二灯光控制电路，第一灯光控制电路连接第一金手指和第二金手指，第二灯光控制电路连接第一金手指和第二金手指，第一金手指或第二金手指插入待测主板上的内存插槽中。

可选地，所述的兼容不同内存的测试诊断治具中，所述内存插槽是DDR3内存插槽时，第一金手指插入DDR3内存插槽中，第一灯光控制电路和第二灯光控制电路通过第一金手指与主板上的处理器连接；

所述供电电路用于输出供电电压给第一灯光控制电路和第二灯光控制电路；

所述第一灯光控制电路根据对应开关操作来控制正面灯光的亮灭状态，灯光的亮度用于反馈DDR3内存插槽与处理器之间通道的通断状态；

所述第二灯光控制电路根据对应开关操作来控制反面灯光的亮灭状态，灯光的亮度用于反馈DDR3内存插槽与处理器之间通道的通断状态。

可选地，所述的兼容不同内存的测试诊断治具中，所述内存插槽是DDR4内存插槽时，第二金手指插入DDR4内存插槽中，第一灯光控制电路和第二灯光控制电路通过第二金手指与主板上的处理器连接；

所述供电电路用于输出供电电压给第一灯光控制电路和第二灯光控制电路；