[实用新型]一种用于集成电路芯片的测试工装

说明书

本实用新型公开了一种用于集成电路芯片的测试工装，涉及电路芯片技术领域，包括装置本体，所述装置本体包括工作台、工作台组件、立柱和测试组件，所述工作台一端固定连接有两个立柱，所述立柱上端均连接有测试组件，所述工作台上端设有工作台组件，所述工作台组件包括控制器、操作板和限位板，所述工作台顶部一端固定连接有控制器，所述工作台顶部固定连接有操作板，所述操作板上端连接有限位板所述限位板个数为两个，所述测试组件包括顶板、伸缩杆、连接板、测试板、螺钉和测试探针，通过测试组件的设置，通过设有两个测试组件，从而提高了一定的工作效率，且便于拆卸适用于不同的集成电路芯片的测试工作，使得该装置适用性增强。

技术领域

本实用新型涉及集成电路芯片技术领域，具体为一种用于集成电路芯片的测试工装。

背景技术

集成电路芯片是能够实现一定电路功能的微型电子器件，为了保证集成电路芯片的稳定顺利工作，需要对集成电路芯片进行测试，筛选出残次品，而测试工装就是对集成电路芯片进行固定的，以便于稳固对集成电路芯片进行测试的工具。

经检索，中国专利授权号为CN 215375504 U的专利，公开了一种用于测试微型混合集成电路芯片的测试工装，包括测试台，所述测试台的上表面开设有两个滑孔，两个所述滑孔的内侧壁均开设有凹孔，两个所述凹孔的内底壁均固定连接有弹簧，两个所述弹簧相互靠近的一端均固定连接有梯形滑块，且梯形滑块的外表面与凹孔的内壁滑动连接，两个所述滑孔的内部均设有梯形块，两个所述梯形块相互远离的一侧面分别与两个梯形滑块相互靠近的一侧面相接触。本实用新型达到对微型混合集成电路芯片测试时快速固定的效果，解决目前微型混合集成电路芯片测试时放置在测试台上方或者工人进行手持出现偏移的问题，将会使微型混合集成电路芯片测试时更加的稳定，保证了测试时的准确性；但依然存在的问题是现有的集成电路芯片测试在测试需要单个对其进行测试，其次无法对测试板进行更换，导致其存在一定的局限性。

实用新型内容

(一)解决的技术问题

针对现有技术的不足，本实用新型提供了一种用于集成电路芯片的测试工装，解决了背景技术中所提出的问题。

(二)技术方案

为实现以上目的，本实用新型通过以下技术方案予以实现：本实用新型提供了一种用于集成电路芯片的测试工装，包括装置本体，所述装置本体包括工作台、工作台组件、立柱和测试组件，所述工作台一端固定连接有两个立柱，所述立柱上端均连接有测试组件，所述工作台上端设有工作台组件，所述工作台组件包括控制器、操作板和限位板，所述工作台顶部一端固定连接有控制器，所述工作台顶部固定连接有操作板，所述操作板上端连接有限位板所述限位板个数为两个。

优选的，所述测试组件包括顶板、伸缩杆、连接板、测试板、螺钉和测试探针。

优选的，所述立柱顶部之间固定连接有顶板，所述顶板底部均固定连接有伸缩杆。

优选的，所述伸缩杆底部固定连接有连接板，所述连接板通过螺钉与测试板进行螺纹连接。

优选的，所述测试板底部固定连接有测试探针，所述测试探针设有若干个。

优选的，所述测试板均位于限位板正上方。

(三)有益效果

本实用新型提供了一种用于集成电路芯片的测试工装。具备以下有益效果：

该一种用于集成电路芯片的测试工装，通过测试组件的设置，通过设有两个测试组件，从而提高了一定的工作效率，且便于拆卸适用于不同的集成电路芯片的测试工作，使得该装置适用性增强。

附图说明

图1为本实用新型整体的结构示意图；

图2为本实用新型工作台组件结构示意图；

图3为本实用新型测试组件结构示意图；