[实用新型]一种用于精密测量精磨棒的测量夹持器

权利要求书

1.一种用于精密测量精磨棒的测量夹持器，包括精磨棒(1)，其特征在于：所述精磨棒(1)放置在驱动结构(2)内部，所述驱动结构(2)用于带动精磨棒转动，所述驱动结构(2)一侧设置有电机(4)，所述电机(4)用于带动驱动结构(2)工作；

检测结构(3)，所述检测结构(3)设置在精磨棒(1)远离驱动结构(2)的一端，所述检测结构(3)用于检测精磨棒(1)的直径、圆跳动和真圆度。

2.根据权利要求1所述的一种用于精密测量精磨棒的测量夹持器，其特征在于：所述驱动结构(2)包括滚动机构(201)，所述滚动机构(201)通过连接带(202)与电机(4)连接，所述滚动机构(201)靠近精磨棒(1)一端连接有放置壳(203)，所述放置壳(203)用于放置精磨棒(1)。

3.根据权利要求2所述的一种用于精密测量精磨棒的测量夹持器，其特征在于：所述滚动机构(201)包括转动轴(204)和外筒(205)，所述转动轴(204)位于外筒(205)内部，且转动轴(204)可在外筒(205)内部转动，所述转动轴(204)靠近精磨棒(1)一端开设有放置槽(206)。

4.根据权利要求1所述的一种用于精密测量精磨棒的测量夹持器，其特征在于：所述检测结构(3)包括激光发射器(31)和激光接收器(32)，所述激光发射器(31)和激光接收器(32)分别设置在精磨棒(1)两侧。

5.根据权利要求2所述的一种用于精密测量精磨棒的测量夹持器，其特征在于：所述滚动机构(201)一侧通过螺钉与连接筒(5)可拆卸连接，所述滚动机构(201)远离精磨棒(1)一端位于连接筒(5)内部。

6.根据权利要求5所述的一种用于精密测量精磨棒的测量夹持器，其特征在于：所述连接筒(5)远离检测结构(3)一端连接有重量块(6)。

7.根据权利要求5所述的一种用于精密测量精磨棒的测量夹持器，其特征在于：所述连接筒(5)一侧连接有第一高度尺(7)，所述第一高度尺(7)用于调节连接筒(5)的高度。

8.根据权利要求4所述的一种用于精密测量精磨棒的测量夹持器，其特征在于：所述激光接收器(32)一侧连接有第二高度尺(8)，所述第二高度尺(8)用于调节激光接收器(32)的高度。

9.根据权利要求1所述的一种用于精密测量精磨棒的测量夹持器，其特征在于：所述驱动结构(2)和连接筒(5)下方均设置有支架(9)，所述支架(9)上方开设有V型槽(10)。

10.根据权利要求1所述的一种用于精密测量精磨棒的测量夹持器，其特征在于：所述驱动结构(2)和检测结构(3)均固定在安装板(11)上方。