[实用新型]上盖组件及烹饪器具

说明书

本公开涉及烹饪器具技术领域，尤其涉及一种上盖组件及烹饪器具。上盖组件包括：上盖本体；发热元件，发热元件设置在上盖本体上，发热元件具有冷区和热区；测温装置，测温装置设置在上盖本体上，且位于发热元件的冷区，用于检测烹饪器具烹饪过程产生的蒸汽的温度。通过上述的设置，将测温装置设置在发热元件的冷区，使得本装置在保证发热元件能够对煲体进行有效地加热，激发食物的香气的同时，测温装置能够避免受到发热元件工作时辐射的热量的影响，从而精确地检测烹饪器具烹饪过程产生的蒸汽的温度，提高了测温装置的检测精度。

技术领域

本公开涉及烹饪器具技术领域，尤其涉及一种上盖组件及烹饪器具。

背景技术

目前，现有的烹饪器具如电饭煲底部的加热组件以热传导的方式对煲体内的食物进行加热。此种加热方式在烹饪大量的米饭时会导致煲体内不同区间的温差较大，使得米粒受热不均，影响米饭的口感。

相关技术中通过在烹饪器具的上盖内设置有发热件，利用发热件对煲体内位于上部的食物进行加热，以提升加热均匀性。并且上盖内设置有用于检测和控制煲体内温度的测温装置，然而发热件工作时会向测温装置辐射热量，从而影响上盖内的测温装置的检测精度，导致测温装置无法精确地检测和控制煲体的加热温度。

实用新型内容

为了解决上述技术问题，本公开提供了一种上盖组件及烹饪器具。旨在解决现有的烹饪器具的上盖内的发热件工作时会向测温装置辐射热量，影响上盖内的测温装置的检测精度的温度的问题。

为实现上述目的，本公开第一方面提供一种上盖组件，用于烹饪器具，包括：上盖本体；发热元件，所述发热元件设置在所述上盖本体上，所述发热元件具有冷区和热区；测温装置，所述测温装置设置在所述上盖本体上，且位于所述发热元件的冷区，用于检测所述烹饪器具烹饪过程产生的蒸汽的温度。

本公开提供的上盖组件，包括上盖本体、发热元件和测温装置，发热元件设置在上盖本体上，向烹饪器具的煲体中辐射热量，实现对煲体内位于上部的食物进行加热，以提升加热均匀性，更好地激发食物香气。所述发热元件具有冷区和热区，将测温装置设置在发热元件的冷区，使得本装置在保证发热元件能够对煲体进行有效地加热，激发食物的香气的同时，测温装置能够尽可能地避免受到发热元件工作时辐射的热量的影响，从而精确地检测烹饪器具烹饪过程产生的蒸汽的温度，提高了测温装置的检测精度。

在一些实施例中，所述发热元件为发热管，所述发热管包括弧形的管主体及分别连接于所述管主体的两端的所述接线端，以所述接线端为中心、距离所述接线端预设距离范围内的区域形成为所述发热管的冷区；所述预设距离为40mm至80mm。

通过上述的设置，弧形的管主体为发热管的热区，距离所述接线端预设距离范围内的区域形成为所述发热管的冷区，因此冷区范围内的温度较低，测温装置位于发热管的冷区，能够避免其受到发热元件工作时辐射的热量的影响，从而提高测温装置的检测精度。

在一些实施例中，所述上盖本体包括安装支架，所述安装支架上开设有贯通的安装孔，所述测温装置的感应端穿设于所述安装孔内，并通过所述安装孔与所述烹饪器具烹饪过程产生的蒸汽接触。

通过在上盖本体上设置安装支架，在安装支架上开设安装孔，使得测温装置的感应端可通过安装孔固定在安装支架上，保证测温装置的检测稳定性，从而精确地检测烹饪器具烹饪过程产生的蒸汽的温度。

在一些实施例中，所述上盖本体的内侧设置有透光件，所述透光件上形成有第一通孔，所述安装支架安装在所述第一通孔处，且所述安装支架和所述第一通孔之间设置有第一密封件。

通过上述的设置，在透光件上形成有第一通孔，将安装支架安装在第一通孔处，使得测温装置能够固定在透光件上，在安装支架和第一通孔之间设置第一密封件，能够避免蒸汽沿着第一通孔进入到安装空间内部，从而提高了上盖本体内个电器件的使用寿命。