[实用新型]一种背钻孔偏移偏测试Coupon板

说明书

本实用新型公开了一种背钻孔偏移偏测试Coupon板，包括Coupon板，所述Coupon板的顶部设置有分隔区，所述Coupon板的顶部安装有测试线，所述Coupon板的顶部设置有背钻孔，所述背钻孔的内侧设置有VIA孔，所述测试线的内部设置有A测试点，所述测试线的内部设置有B测试点。通过电测方法100%检查，未增加任何工序检验标准明确，避免了人工检查漏失问题，可通过不同D2M设计，层次筛选不同背钻孔偏移物料，给物料sorting提供了选择空间，不需切片，不会破坏PCB，可快速分析出背钻孔偏移，便于不良物料的分析。

技术领域

本实用新型属于PCB板加工技术领域，具体涉及一种背钻孔偏移偏测试Coupon板。

背景技术

随着电子产品网络和结构设计的复杂性不断提升，为降低层间信号的干扰、满足高密度线路需求，此类高端服务器PCB大多数采用背钻设计，这对背钻孔对准度提出了较高的要求。

背钻孔偏位不良可能使PCB存在微开风险，而微开物料电测时无法100％测出，流入客户端可能造成重大的质量不良，目前无有效的手段Sorting此类不良，造成处理起来相当棘手。

实用新型内容

针对现有技术存在的不足，本实用新型目的是提供一种背钻孔偏移偏测试Coupon板，解决了背钻孔偏位不良可能使PCB存在微开风险，而微开物料电测时无法100％测出，流入客户端可能造成重大的质量不良，目前无有效的手段Sorting此类不良，造成处理起来相当棘手的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种背钻孔偏移偏测试Coupon板，包括Coupon板，所述Coupon板的顶部设置有分隔区，所述Coupon板的顶部安装有测试线，所述Coupon板的顶部设置有背钻孔，所述背钻孔的内侧设置有VIA孔，所述测试线的内部设置有A测试点，所述测试线的内部设置有B测试点。

优选的，所述测试线的宽度为Coupon板中VIA孔到测试线的距离。

通过上述技术方案，优点在于在PCB板边增加测试Coupon板，通过电测机进行100％检查，在目前生产工艺中未增加任何工序，同时避免了人工检查漏失问题，方便对不同层度偏位物料进行分类管理。

优选的，所述A测试点通过测试线与B测试点相连接。

通过上述技术方案，优点在于当背钻孔偏移将分隔区钻断，则A测试点至B测试点电测结果为开路，反之则为短路。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：

通过电测方法100％检查，未增加任何工序检验标准明确，避免了人工检查漏失问题，可通过不同D2M设计，层次筛选不同背钻孔偏移物料，给物料sorting提供了选择空间，不需切片，不会破坏PCB，可快速分析出背钻孔偏移，便于不良物料的分析。

附图说明

图1为本实用新型的俯视结构示意图。

图中：1、Coupon板；2、A测试点；3、B测试点；4、背钻孔；5、测试线；6、分隔区；7、VIA孔。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施方案中的附图，对本实用新型实施方案中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施方案仅仅是本实用新型一部分实施方案，而不是全部的实施方案。基于本实用新型中的实施方案，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施方案，都属于本实用新型保护的范围。

如图1所示，一种背钻孔偏移偏测试Coupon板，包括Coupon板1，Coupon板1的顶部设置有分隔区6，Coupon板1的顶部安装有测试线5，Coupon板1的顶部设置有背钻孔4，背钻孔4的内侧设置有VIA孔7，测试线5的内部设置有A测试点2，测试线5的内部设置有B测试点3。

上述技术方案的工作原理如下：