[实用新型]一种芯片测试工艺用盖带导向装置

权利要求书

1.一种芯片测试工艺用盖带导向装置，其特征在于，包括工作台(1)、导轮组件(2)、导向件(3)和调整台(4)，所述导向件(3)和所述调整台(4)均设置在所述工作台(1)上，所述调整台(4)用于调节所述导向件(3)的高度，所述导轮组件(2)设置在所述工作台(1)上方，所述导轮组件(2)用于传输待处理的盖带；

其中，所述导向件(3)靠近所述导轮组件(2)的一端设置有开口槽(31)，所述导向件(3)底面设置有导向槽(32)，所述开口槽(31)端部与所述导向槽(32)端部连接，且所述开口槽(31)的宽度与所述导向槽(32)的宽度相同，所述开口槽(31)和所述导向槽(32)用于对将所述导轮组件(2)传输的所述盖带进行导向，所述开口槽(31)贯穿所述导向件(3)上下表面，所述导向槽(32)嵌入设置在所述导向件(3)底部，且所述开口槽(31)和所述导向槽(32)之间通过弧形板(33)连接。

2.根据权利要求1所述的芯片测试工艺用盖带导向装置，其特征在于，所述导向件(3)底部设置为弧形面，且所述导向件(3)底部两端还设置有安装槽(34)。

3.根据权利要求2所述的芯片测试工艺用盖带导向装置，其特征在于，所述导向件(3)远离所述导轮组件(2)的一端连接有封刀板(7)，所述封刀板(7)的高度低于所述导向件(3)的高度。

4.根据权利要求1所述的芯片测试工艺用盖带导向装置，其特征在于，所述调整台(4)上安装有连接座(5)，所述连接座(5)端部通过销钉(6)与所述导向件(3)固定连接。

5.根据权利要求1所述的芯片测试工艺用盖带导向装置，其特征在于，所述调整台(4)通过连接螺栓(8)与所述工作台(1)连接。

6.根据权利要求1所述的芯片测试工艺用盖带导向装置，其特征在于，所述开口槽(31)包括连接在一起的第一槽段(35)和第二槽段(36)，所述第一槽段(35)靠近所述导轮组件(2)，且所述第一槽段(35)的宽度大于所述第二槽段(36)的宽度。