[实用新型]一种防误触功能片测试装置

说明书

本实用新型公开一种防误触功能片测试装置，包括测试平台，所述测试平台上设有功能片定位区，所述功能片定位区设有与功能片上的金手指对应的导电部，所述测试平台上设有用于抵压功能片以使功能片上的金手指与导电部接触的压板和控制压板上下活动的下压驱动元件，所述压板上设有向功能片定位区的上方伸出的连接板，所述连接板上设有与功能片上的按键相对应的抵压杆和使抵压杆始终具有向上运动之趋势的复位机构。本实用新型通过在压板上设置连接板，在连接板上设置抵压杆，从而可通过按压抵压杆的上端使抵压杆的下端抵触在功能片的按键上，从而实现对按键的检测，避免了人手测试时因触摸范围大而导致的误触情况，提高了测试结果的准确性。

技术领域

本实用新型涉及功能片测试设备技术领域，具体涉及一种防误触功能片测试装置。

背景技术

触摸屏在生产过程中，需要对功能片的开路和短路进行测试，即对其ITO导通率作测试。测试原理：主要依靠测试机上的顶针与功能片的焊盘区域的金手指接触，主板芯片程序返回功能片的开路、短路信号，并显示于电脑上，在测试完功能片的开路、短路后，通常还需要对功能片上的按键进行测试。目前对按键测试时主要是通过人手的手指对按键进行按压，由于手指按压时，手指按压的表面会变形，导致触摸范围变大，容易触碰到按键以外的部位的情况，使得测试结果产生误差，导致不良品流出。

实用新型内容

本实用新型针对现有技术存在之缺失，提供一种防误触功能片测试装置，其能避免人手测试按键时误触功能片的其他部位而导致测试结果不准确的情况，提高测试精度，防止不良品流出。

为实现上述目的，本实用新型采用如下之技术方案：

一种防误触功能片测试装置，包括测试平台，所述测试平台上设有功能片定位区，所述功能片定位区设有与功能片上的金手指对应的导电部，所述测试平台上设有用于抵压功能片以使功能片上的金手指与导电部接触的压板和控制压板上下活动的下压驱动元件，所述压板上设有向功能片定位区的上方伸出的连接板，所述连接板上设有与功能片上的按键相对应的抵压杆和使抵压杆始终具有向上运动之趋势的复位机构。通过在压板上设置连接板，在连接板上设置抵压杆，从而可通过按压抵压杆的上端使抵压杆的下端抵触在功能片的按键上，从而实现对按键的检测，避免了人手测试时因触摸范围大而导致的误触情况，提高了测试结果的准确性；通过设置复位机构，从而在按压测试后可使抵压杆自动复位，远离按键。

作为一种优选技术方案，所述连接板上设有安装座，所述抵压杆设于安装座上。

作为一种优选技术方案，所述复位机构为压缩弹簧，所述压缩弹簧套设于抵压杆的外侧。

所述安装座上设有与压缩弹簧适配的容置槽，所述容置槽的上下两端设有供抵压杆穿过的通孔，所述抵压杆穿设于容置槽内，且两端伸出通孔外，所述抵压杆上设有沿径向向外凸出的挡环，所述压缩弹簧设于容置槽内，且压缩弹簧的上端与挡环的下表面相抵触。

作为一种优选技术方案，所述压板上设有第一腰形孔，所述连接板的一端通过螺栓与第一腰形孔连接。

作为一种优选技术方案，所述连接板上设有第二腰形孔，所述安装座通过螺栓与第二腰形孔连接，所述第一腰形孔的长度方向与第二腰形孔的长度方向相垂直。

作为一种优选技术方案，所述抵压杆的下端设有导电硅胶块。

作为一种优选技术方案，所述导电硅胶块与按键接触的一侧设有锥形抵触面或球形抵触面，从而保证抵压杆在测试时与按键稳定接触，且不会抵触到按键以外的部位，提高测试结果准确性。

作为一种优选技术方案，所述抵压杆的上端设有按压头，所述按压头的直径大于抵压杆的直径，所述压缩弹簧的下端与安装座的上表面抵触，上端与按压头的下表面抵触。

作为一种优选技术方案，所述测试平台上设有用于对功能片进行定位的挡条。

本实用新型测试过程如下：