[实用新型]一种具有角度调节装置的芯片测试机

说明书

本实用新型涉及一种具有角度调节装置的芯片测试机，包括工作台，所述工作台的顶部设置有芯片固定结构，所述芯片固定结构包括转盘、固定架、第一固定盘、第一电机、芯片固定盘、转杆和第二电机，所述工作台的顶部转动连接有转盘，所述转盘的顶部固定安装有固定架。该具有角度调节装置的芯片测试机，通过旋转转杆，控制芯片固定盘在前后方向上进行旋转，便于对芯片固定盘上电子芯片的纵向角度进行调节，并且，通过第二电机驱动整个转盘水平进行旋转，对芯片固定盘上电子芯片的横向水平角度进行调节，使得在对芯片进行检测时，检测人员无需频繁移动位置，站起或者坐下，降低了芯片检测的工作强度，提高了芯片检测效率。

技术领域

本实用新型涉及芯片技术领域，具体为一种具有角度调节装置的芯片测试机。

背景技术

电子芯片是将大量的微电子元器件(晶体管、电阻、电容等)形成的集成电路放在一块塑基上，做成一块芯片，电子芯片包含晶圆芯片和封装芯片，相应电子芯片生产线由晶圆生产线和封装生产线两部分组成，电子芯片在生产完成以后，都需要进行检测，从而保证电子芯片的生产质量，通过芯片测试机对芯片进行固定，然后通过工业相机和工业显微镜，对芯片进行视觉检测。

经检索，根据中国专利号为CN211841883U的实用新型专利公开的一种电子芯片多角度翻转机构，该实用新型只能带动电子芯片进行翻转，无法从横向和纵向上对电子芯片的角度进行调节，导致在对芯片进行检测时，芯片的角度调节较为不便，需要检测人员移动位置，站起或者坐下，增加了芯片检测的工作强度，降低了芯片检测效率，故而提出了一种具有角度调节装置的芯片测试机来解决上述问题。

实用新型内容

(一)解决的技术问题

针对现有技术的不足，本实用新型提供了一种具有角度调节装置的芯片测试机，具备能够对芯片测试机进行多个角度的调节的优点，解决了只能带动电子芯片进行翻转，无法从横向和纵向上对电子芯片的角度进行调节，导致在对芯片进行检测时，芯片的角度调节较为不便，需要检测人员移动位置，站起或者坐下，增加了芯片检测的工作强度，降低了芯片检测效率的问题。

(二)技术方案

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种具有角度调节装置的芯片测试机，包括工作台，所述工作台的顶部固定安装有防护罩，所述工作台的顶部设置有芯片固定结构，所述防护罩的内顶壁设置有视觉检测结构；

所述芯片固定结构包括转盘、固定架、第一固定盘、第一电机、芯片固定盘、转杆和第二电机，所述工作台的顶部转动连接有转盘，所述转盘的顶部固定安装有固定架，所述固定架的内部转动连接有第一固定盘，所述第一固定盘的背面固定安装有第一电机，所述第一固定盘的正面转动连接有芯片固定盘，所述固定架的右侧转动连接有转杆，所述工作台的底部固定安装有第二电机。

进一步，所述工作台的顶部开设有第一滑圈，所述转盘的底部固定安装有数量为两个的第一滑块，所述转盘通过两个第一滑块与第一滑圈滑动连接，所述视觉检测结构包括电动滑轨、连接杆、连接板、工业相机检测器和工业显微镜检测器，所述防护罩的内顶壁固定安装有电动滑轨，所述电动滑轨的底部滑动连接有连接杆，所述连接杆的底部固定安装有连接板，所述连接板的底部固定安装有工业相机检测器，所述连接板的底部固定安装有工业显微镜检测器。

进一步，所述第一固定盘的左右两侧均固定安装有连接杆，所述第一固定盘通过两个连接杆分别与固定架的内左壁和内右壁转动连接，所述转杆贯穿固定架的右侧并与其中一个连接杆固定连接。

进一步，所述第一固定盘的正面开设有第二滑圈，所述芯片固定盘的背面固定安装有数量为两个的第二滑块，所述芯片固定盘通过两个第二滑块与第二滑圈滑动连接。

进一步，所述芯片固定盘的正面开设有数量为十个的芯片固定槽，所述芯片固定盘的外部固定安装有数量为四个的螺纹座，所述芯片固定盘的正面活动安装有透明亚克力罩，所述透明亚克力罩的内部活动安装有数量为四个的螺纹杆，四个所述螺纹杆分别与四个螺纹座螺纹连接。