[实用新型]一种HIL台架联合测试系统

说明书

本申请公开了一种HIL台架联合测试系统，包括至少一台上位机和多个机柜，每个机柜内设置有一套HIL台架测试装置，每个HIL台架测试装置包括交换机、工控机和VT System板卡，交换机分别与工控机、VT System板卡连接；上位机用于与任一交换机连接，用于基于用户的调试请求向交换机输出调试控制指令，以使工控机和VT System板卡在调试控制指令的控制下实现调试操作。这样一来，在对单个HIL台架测试装置进行调试时就不会对其他装置产生影响，从而避免了在对HIL台架测试装置在调试时产生冲突。

技术领域

本申请涉及汽车制造技术领域，更具体地说，涉及一种HIL台架联合测试系统。

背景技术

当前，HIL台架联合测试系统由多个HIL台架测试装置集成而成，在对该测试系统进行联调时，需要由同一台路由器将所有HIL台架测试装置连接在一起，以实现对多个HIL台架测试装置之间的联调，但这样一来，被调试的HIL台测试装置之间会产生冲突，从而影响联调效果。

实用新型内容

有鉴于此，本申请提供一种HIL台架联合测试系统，用于避免在对HIL台架测试装置在调试时产生冲突。

为了实现上述目的，现提出的方案如下：

一种HIL台架联合测试系统，包括至少一台上位机和多个机柜，每个所述机柜内设置有一套HIL台架测试装置，其中：

每个所述HIL台架测试装置包括交换机、工控机和V T System板卡，所述交换机分别与所述工控机、所述VT System板卡连接；

所述上位机用于与任一所述交换机连接，用于基于用户的调试请求向所述交换机输出调试控制指令，以使所述工控机和所述VT System板卡在所述调试控制指令的控制下实现调试操作。

可选的，所述多个机柜成级联方式连接，其中：

第一台所述机柜内的所述交换机与所述上位机连接，其与所述机柜内的所述交换机与前一个所述机柜内所述VT System板卡连接。

可选的，所述VT System设置有以太网卡，其中：

所述交换机通过所述以太网卡与处于同一所述机柜内的所述VT System板卡实现连接。

可选的，所述VT System板卡通过其以太网卡实现与其他所述机柜内的所述交换机实现连接。

从上述的技术方案可以看出，本申请公开了一种HIL台架联合测试系统，包括至少一台上位机和多个机柜，每个机柜内设置有一套HIL台架测试装置，每个HIL台架测试装置包括交换机、工控机和V T System板卡，交换机分别与工控机、VT System板卡连接；上位机用于与任一交换机连接，用于基于用户的调试请求向交换机输出调试控制指令，以使工控机和VT System板卡在调试控制指令的控制下实现调试操作。这样一来，在对单个HIL台架测试装置进行调试时就不会对其他装置产生影响，从而避免了在对HIL台架测试装置在调试时产生冲突。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本申请实施例的一种HIL台架测试装置的框图；

图2为本申请实施例的一种HIL台架联合测试系统的框图。

具体实施方式