[实用新型]一种测试板高压防护结构、高压防护板及测试机

说明书

一种测试板高压防护结构、高压防护板及测试机，包括：测试板，所述测试板的外侧表面上凸出设置有部件；高压防护板，所述高压防护板由绝缘材料制成，设置在所述测试板的外侧表面上，与所述测试板可拆卸连接，所述高压防护板朝向所述测试板一侧表面上设置有容置部，所述容置部设置在与所述部件相对应的位置，所述测试板与所述高压防护板之间的距离设定为所述部件伸入到所述容置部内。由上，通过在测试板上安装由绝缘材料制成的高压防护板，从而可以避免用户在拆卸测试板时与测试板上的部件接触，引起触电及划伤事故。

技术领域

本实用新型涉及半导体测试技术领域，特别是指一种测试板高压防护结构、高压防护板及测试机。

背景技术

在所有的电子元器件(Device)的制造工艺里面，存在着去伪存真的需要，这种需要实际上是一个试验的过程，为了实现这种过程，就需要各种试验设备，这类设备就是所谓的ATE(Automatic Test Equipment)。这里所说的电子元器件DUT(Device Under Test)，当然包括IC类别，此外，还包括分立的元件、器件，ATE存在于前道工序(Front End)和后道工序(Back End)的各个环节，具体的取决于工艺(Process)设计的要求。

申请人在研究的过程中发现，在使用测试机对电子元器件进行测试的过程中，测试机所包括的测试板卡往往会携带高压电流，在测试结束后，需要对测试板卡先进行放电后进行拆卸，但是放电过程是具有一定时间性的，因此高压电流无法瞬时消除的，在测试板卡没有完全放电时，若用户接触到测试板卡，则容易发生触电的现象，存在一定的危险性。

实用新型内容

有鉴于此，本实用新型的主要目的在于提供一种测试板高压防护结构、高压防护板及测试机，以能对测试卡提供防护，避免用户与测试卡发生接触而触电。

本申请第一方面提供一种测试板高压防护结构，包括：测试板，所述测试板的外侧表面上凸出设置有部件；高压防护板，所述高压防护板由绝缘材料制成，设置在所述测试板的外侧表面上，与所述测试板可拆卸连接，所述高压防护板朝向所述测试板一侧表面上设置有容置部，所述容置部设置在与所述部件相对应的位置，所述测试板与所述高压防护板之间的距离设定为所述部件伸入到所述容置部内。

由上，通过在测试板上安装由绝缘材料制成的高压防护板，从而可以避免用户在拆卸测试板时与测试板上的部件接触，引起触电事故。另外，通过将测试板上的部件容置于容置部中，从而可以对测试板及测试板上的部件提供防护，从而可以进一步减少用户拆卸测试板时与测试板上的部件接触的可能，从而进一步地避免用户在拆卸测试板时与测试板上的部件接触，从而提高高压防护板的防护性能，避免触电事故的发生。同时，通过将测试板上的部件容置于容置部中，从而可以避免在对测试板进行操作时，凸出的部件将工作人员划伤。

作为第一方面的一种可能的实现方式，所述部件与所述容置部对应设置有多个，所述容置部的形状分别与所对应的所述部件相适配。

由上，通过使容置部的形状与部件相适配，可以在部件伸入容置部内后，减少容置部与部件之间的缝隙，从而提高了高压防护板的防护性能，减少触电事故发生的可能性。

作为第一方面的一种可能的实现方式，所述容置部包括第一容置部与第二容置部，所述第一容置部呈通孔状，所述第二容置部呈凹槽状。

由上，提供了两种容置部的结构，从而可以根据需要选择容置部的结构形式，进而提高了高压防护板的适用范围。

作为第一方面的一种可能的实现方式，所述部件包括第一部件与第二部件，所述第一部件在所述测试板的外侧表面上凸出的高度大于所述第二部件在所述测试板的外侧表面上凸出的高度；所述第一容置部与所述第一部件对应设置，所述第二容置部与所述第二部件对应设置。