[实用新型]一种电路板测试装置

权利要求书

1.一种电路板测试装置，从上往下依次包括可相互连接设置的载具顶板(1)和载具针板(2)，其特征在于，所述载具顶板(1)包括顶板基板(3)，所述顶板基板(3)上的边缘位置设置有若干个快换锁紧器(4)，所述顶板基板(3)上沿着Y轴正方向的一侧安装有若干个转接探针(5)；所述载具针板(2)包括针板基板(7)，所述快换锁紧器(4)正下方的针板基板(7)上设置有快换导套(8)，所述快换锁紧器(4)可插接入下方的快换导套(8)内，所述针板基板(7)上的中间位置安装有若干个测试探针(9)，所述测试探针(9)延伸至针板基板(7)的底部，所述转接探针(5)正下方的针板基板(7)上设置有转接针座(10)，所述转接探针(5)可插接入下方的转接针座(10)内。

2.如权利要求1所述的一种电路板测试装置，其特征在于，所述快换锁紧器(4)包括锁紧器本体(11)，所述锁紧器本体(11)的顶部设置有锁紧器基座(12)，所述锁紧器基座(12)上设置有可与锁紧器本体(11)内的空腔相连通的通气孔(13)，所述锁紧器基座(12)底部的锁紧器本体(11)的空腔内设置有轴(14)，所述轴(14)可沿着Z轴方向在锁紧器本体(11)的空腔内移动，所述锁紧器本体(11)的空腔靠近底部的位置一侧开设有缺口(16)，所述缺口(16)内设置有球(17)，所述快换导套(8)内靠近顶部的位置设置有卡槽(18)。

3.如权利要求2所述的一种电路板测试装置，其特征在于，所述锁紧器本体(11)的空腔为从上往下直径依次变小的阶梯孔，所述阶梯孔为四段结构设置，所述轴(14)为从上往下直径依次变小的阶梯轴，所述阶梯轴为三段结构设置，所述锁紧器基座(12)安装在顶部的第一阶梯孔内，所述轴(14)顶部的第一段可在第二阶梯孔内沿着Z轴方向移动，所述轴(14)中部的第二段以及底部的第三段均可在第三阶梯孔和第四阶梯孔内沿着Z轴方向移动。

4.如权利要求3所述的一种电路板测试装置，其特征在于，所述第三阶梯孔内安装有弹簧(15)，所述弹簧(15)套设在轴(14)中部的第二段上。

5.如权利要求3所述的一种电路板测试装置，其特征在于，所述轴(14)底部的第三段为楔块(19)，所述楔块(19)与第四阶梯孔之间设置有楔块倾斜角度(θ)。

6.如权利要求1所述的一种电路板测试装置，其特征在于，所述顶板基板(3)上的中间位置设置有用于对测试探针(9)避位处理的避位孔(6)。

7.如权利要求1所述的一种电路板测试装置，其特征在于，所述快换锁紧器(4)和快换导套(8)的数量均为2～4个。

8.如权利要求7所述的一种电路板测试装置，其特征在于，所述快换锁紧器(4)和快换导套(8)的数量均为3个。