[实用新型]万能工具显微镜测量台有效

专利信息
申请号: 202222639093.5 申请日: 2022-10-09
公开(公告)号: CN218238717U 公开(公告)日: 2023-01-06
发明(设计)人: 吕明川;文孟喜;孙奕翔;詹旭;苗林生;刘涛 申请(专利权)人: 钢研纳克成都检测认证有限公司
主分类号: G01B11/00 分类号: G01B11/00;G01B11/02;G01B11/24;G01B11/26
代理公司: 成都华烨专利代理事务所(普通合伙) 51336 代理人: 孙梦娅
地址: 610000 四川省成都市*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 万能 工具显微镜 测量
【说明书】:

本实用新型提供了一种万能工具显微镜测量台,属于检测设备技术领域。包括安装在万能工具显微镜工作平台上的测量台和设置在测量台上的基准块,基准块为L型的固定块,基准块夹角处的一侧面与测量台上的X轴方向平行,另一侧面与测量台上的Y轴方向平行,基准块的夹角处用于放置样品并通过基准块确定样品X轴和Y轴的两个基准,测量台上还设有调节机构,调节机构用于调节基准块在测量台上的位置,解决了样品测量速率慢,不方便找两个基准的问题,提高了测量的工作效率。

技术领域

本实用新型涉及检测设备技术领域,尤其涉及一种万能工具显微镜测量台。

背景技术

万能工具显微镜能精确测量各种工件尺寸、角度、形状和位置,以及螺纹制件的各种参数。适用于机器制造业、模具制造业、仪器仪表制造业、军事工业、航空航天及汽车制造业、电子行业、塑料与橡胶行业的计量室、检查站和高等院校、科研院所,对机械零件、量具、刀具、夹具、模具、电子元器件、电路板、冲压板、塑料及橡胶制品进行质量检验和控制。

目前,在使用万能工具显微镜对不同规格断裂韧性的样品进行测量时,在测量前需要在测量台上对每个断裂韧性的样品找到X轴和Y轴两个方向的基准,在找到两个基准之后,使用万能工具显微镜实现对断裂韧性的样品测量,现有技术中采用万能工具显微镜外接电脑,在电脑上显示样品的X轴和Y轴两个方向的基准,通过用手移动样品在测量台上的位置,使得测量台上的样品X轴和Y轴方向与电脑上显示样品的X轴和Y轴两个方向的基准相重合,实现对样品X轴和Y轴两个方向基准的确定,采用此方法在每次测量前都需要对每个测量断裂韧性的样品进行两个基准的确定,在断裂韧性的样品数量过多时,采用上述方法会给测量带来很大的不便,不能提高工作效率。

实用新型内容

鉴于以上问题,本实用新型提供一种万能工具显微镜测量台,解决了样品测量速率慢,不方便找两个基准的问题,提高了测量的工作效率。

为了达到上述发明目的,本实用新型采用的技术方案如下:

提供一种万能工具显微镜测量台,包括安装在万能工具显微镜工作平台上的测量台和设置在测量台上的基准块,基准块为L型的固定块,基准块夹角处的一侧面与测量台上的X轴方向平行,另一侧面与测量台上的Y轴方向平行,基准块的夹角处用于放置样品并通过基准块确定样品X轴和Y轴的两个基准,测量台上还设有调节机构,调节机构用于调节基准块在测量台上的位置。

采用上述方案,在需要对样品进行测量时,万能工具显微镜外接电脑,将样品放置在基准块上,调整调节机构改变基准块在测量台上的位置,使得测量台上的样品X轴和Y轴方向与电脑上显示样品的X轴和Y轴两个方向的基准相重合,从而确定样品X轴和Y轴的两个基准,再利用万能工具显微镜对样品进行测量,使用调节机构对基准块在测量台上的位置进行调节,实现对不同规格样品两个基准的确定,在对同规格的样品进行测量时,调节一次基准块在测量台上的位置,再更换同规格的样品放置于基准块的夹角处,即可完成对同规格样品的测量,提高了样品的测量速率和工作的效率。

进一步地,调节机构包括设于测量台上的两个滑槽和两个螺栓,测量台上的两个滑槽相互平行且水平设于测量台上,滑槽的长度方向与X轴成一定角度,基准块滑动设于两个滑槽上,基准块上间隔开设有两个第一螺纹孔,基准块上的两个第一螺纹孔与两个滑槽一一对应,两个螺栓分别螺纹连接于两个第一螺纹孔内,并能与两个滑槽的内底壁抵接。

采用上述方案,通过拧紧或拧松螺栓,改变基准块位于滑槽上的位置,实现基准块在测量台上X轴和Y轴方向的位置变化,根据不同规格的样品,对基准块在测量台上的位置进行调整,实现对不同规格样品两个基准的确定。

进一步地,测量台的下表面设有支撑板,支撑板相邻的的两侧面上均设有驱动装置,测量台靠近驱动装置的一侧面沿所在侧面的长边方向滑动设有压板,压板远离测量台的一侧面与驱动装置连接,驱动装置用于带动测量台垂直于压板滑动方向水平移动。

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