[实用新型]一种用于一体化探针的测试插座

说明书

本实用新型公开了一种用于一体化探针的测试插座，涉及到探针测试插座技术领域，解决了探针插入检测过程中容易接触不良的问题，包括插座本体，插座本体上开设有插接孔；还包括螺纹杆和下压组件，下压组件带动螺纹杆自转从而带动探针向下抵压插接孔；抵压板和夹持组件，夹持组件用于配合抵压板使下压组件固定探针，本实用新型通过转动转动环使抵压板抵压固定探针，并转动螺纹杆，在转板的限制下，螺纹杆上下移动，带动转动环和探针上下移动，从而使探针紧密的抵压在插接孔中，避免接触不良。

技术领域

本实用新型涉及探针测试插座技术领域，具体为一种用于一体化探针的测试插座。

背景技术

探针的测试插座，是一种专门用于测试探针性能的检测装置，通过将探针插入测试插座中，并通过通电处理，进行电性等方面的侧视。

现有的测试插座使用过程中，一般将探针插入插座中后，没有下压的装置，而实际侧视过程中，常出现接触不良的情况，因为探针为单独的一根，不像三角插头通过三个进行插接而固定，单独的探针容易出现接触不良的情况，为此，我们提出一种用于一体化探针的测试插座。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供避免接触不良的一种用于一体化探针的测试插座，以解决上述背景技术中提出的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种用于一体化探针的测试插座，包括插座本体，所述插座本体上开设有插接孔；还包括螺纹杆和下压组件，所述下压组件带动所述螺纹杆自转从而带动探针向下抵压所述插接孔；抵压板和夹持组件，所述夹持组件用于配合所述抵压板使所述下压组件固定探针。

优选的，所述下压组件包括转动环，所述转动环上转动连接有两个呈对称分布的转杆，其中一个所述转杆的顶部固定连接有调节手柄，位于所述调节手柄下方的所述转杆底端与所述螺纹杆连接固定，所述螺纹杆外表面套设有螺纹套筒，所述螺纹套筒上设有带动所述转动环转动的转动组件。

优选的，所述夹持组件包括压簧，所述压簧两端分别与所述抵压板和所述转动环挂接配合，所述压簧两侧设有第一伸缩杆，所述第一伸缩杆两端分别与所述抵压板和所述转动环连接固定，所述抵压板通过所述转动组件切换从而与探针抵压配合，所述插座本体上还设有保证夹持位置的限位组件。

优选的，所述转动组件包括两个转板，所述插座本体内部开设有第一转动槽，所述第一转动槽顶面开设有穿出所述插座本体的第二转动槽，所述转板于所述第一转动槽内转动，其中一个所述转板与所述螺纹套筒连接固定，另一所述转板固定连接有与所述转杆套设的转动套筒，所述螺纹套筒和所述转动套筒均于所述第二转动槽内转动。

优选的，所述限位组件包括连接固定于所述插接本体的固定板，所述固定板上固定连接有内部带有弹簧的第二伸缩杆，所述第二伸缩杆端部固定连接有与所述螺纹套筒和所述转动套筒抵压配合的凹槽板。

优选的，所述抵压板两侧呈弧形结构，靠近探针的一侧呈凹槽状，有助于抵压固定。

优选的，所述第一转动槽的截面长度大于所述第二转动槽的截面长度，避免转板脱离出来。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：

本实用新型通过转动转动环使抵压板抵压固定探针，并转动螺纹杆，在转板的限制下，螺纹杆上下移动，带动转动环和探针上下移动，从而使探针紧密的抵压在插接孔中，避免接触不良。

附图说明

图1为本实用新型整体结构示意图；

图2为本实用新型整体结构拆分示意图；

图3为图2中结构拆分示意图；

图4为图3中转动环及其连接件结构拆分示意图。