[实用新型]一种芯片测试座

说明书

本实用新型提供一种芯片测试座，涉及芯片测试领域，以解决由于芯片槽与芯片不匹，芯片在放置好后容易在芯片槽的内部移动，导致芯片的引脚与测试针之间不能接触的问题，包括测试底座，所述测试底座的顶部左侧设置有导向柱；所述导向柱的圆周外壁上设置有限位盘；所述测试底座的顶部右侧设置有控制栓；所述导向柱上设置有测试盖板；所述测试盖板的底部居中位置开设底槽，且底槽为圆形结构；所述底槽的内部设置有压板。本实用通过适应块接触新芯片的外壁，从能够自动对规格较小的芯片限位，使芯片的引脚对准探针，避免因外界原因导致规格较小的芯片在芯片搁置槽的内部出现移动，造成芯片引脚与探针不接触。

技术领域

本实用新型属于芯片测试技术领域，更具体地说，特别涉及一种芯片测试座。

背景技术

芯片又称或称微电路，属于高科技产物的一种，芯片在正式投入使用之前，需要对芯片进行性能的测试，避免缺陷芯片投入使用带来隐患，而对于芯片的测试就需要用到芯片测试座。

现有的芯片测试座在进行测试的时候，大都仅仅能对一种规格的芯片进行安装测试，当遇到规格较小的芯片时，由于芯片槽与芯片不匹，芯片在放置好后容易在芯片槽的内部移动，导致芯片的引脚与测试针之间不能接触，影响后续对于芯片的测试工作，不适用于对较小规格的芯片进行测试，缺少对于规格较小芯片的限位结构。

实用新型内容

为了解决上述技术问题，本实用新型提供一种芯片测试座，以解决现有的芯片测试座大都仅仅能对一种规格的芯片进行安装测试，当遇到规格较小的芯片时，由于芯片槽与芯片不匹，芯片在放置好后容易在芯片槽的内部移动，导致芯片的引脚与测试针之间不能接触，影响后续对于芯片的测试工作问题。

本实用新型一种芯片测试座的目的与功效，由以下具体技术手段所达成：

一种芯片测试座，包括：测试底座，所述测试底座的顶部左侧设置有导向柱，且导向柱为圆柱形结构；所述导向柱的圆周外壁上设置有限位盘，且限位盘为圆盘形结构；所述测试底座的顶部右侧设置有控制栓；所述导向柱上设置有测试盖板；所述测试盖板的底部居中位置开设底槽，且底槽为圆形结构；所述底槽的内部设置有压板，且压板为圆盘结构。

进一步的，所述测试底座的顶部居中位置开设有芯片搁置槽；所述芯片搁置槽的底部开设有滑动槽，且滑动槽为圆柱形结构。

进一步的，所述滑动槽的内部滑动安装有探针；所述挡盘处于滑动槽的内部。

进一步的，所述探针的圆周外壁上设置有挡盘，且挡盘为圆盘形结构。

进一步的，所述挡盘的底部嵌入安装有弹簧A的一端，且弹簧A的另一端嵌入安装于滑动槽的内侧底部。

进一步的，所述测试底座的顶部开设有侧槽；所述侧槽与芯片搁置槽相连通。

进一步的，所述侧槽的内部设置有限位块，且限位块大体呈T形结构。

进一步的，所述限位块的顶部外侧开设有受力槽，且受力槽的底部呈倾斜状结构。

进一步的，所述限位块的内侧嵌入安装有弹簧B的一端，且弹簧B的另一端嵌入安装于侧槽的内部；所述限位块的顶部内侧开设有调节槽。

进一步的，所述调节槽的内部设置有适应块；所述适应块的外侧嵌入安装有弹簧C的一端，且弹簧C的另一端嵌入安装于调节槽的外侧。

进一步的，所述压板的顶部嵌入安装有弹簧D的一端，且弹簧D的另一端嵌入安装于底槽的顶部。

进一步的，所述压板的底部设置有压垫，且压垫为柔性材质；所述测试盖板的底部设置有压块。

进一步的，所述测试盖板的右侧设置有螺母副，且螺母副与控制栓相连接。

与现有技术相比，本实用新型具有如下有益效果：