[实用新型]一种集成电路芯片测试定位装置

权利要求书

1.一种集成电路芯片测试定位装置，包括定位板(1)，其特征在于，所述定位板(1)顶部的中间位置处设置有呈对称分布的两个运动座(2)，所述运动座(2)顶部的一侧设置有呈U形设置的夹板(3)，所述夹板(3)内表面的两端开设有呈对称分布的扣槽(7)，所述运动座(2)顶部表面的中间位置处开设有开口(8)，所述开口(8)的内部固定有内嵌轴(9)，所述内嵌轴(9)的外周面滑动套设有连接套(10)，所述连接套(10)的顶部与相邻位置夹板(3)的表面相固定，所述夹板(3)相互远离一侧的表面固定有固定块(11)，所述固定块(11)的一端设置有活动杆(12)，所述活动杆(12)的顶部固定有固定筒(13)，所述固定筒(13)的内部贯穿插设有插杆(14)，所述插杆(14)外周面位于固定筒(13)内部部分的位置处套设有弹簧(16)，所述插杆(14)外周面位于相邻位置弹簧(16)底部的位置处设置有固定环(15)，所述固定环(15)的中间位置处与相邻位置插杆(14)的外周面相固定。

2.根据权利要求1所述的一种集成电路芯片测试定位装置，其特征在于：所述运动座(2)顶部位于相邻位置活动杆(12)底部的位置处开设有置物槽(17)，所述置物槽(17)的内部固定有固定杆(18)，所述固定杆(18)的表面贯穿开设有两个第一插槽(19)。

3.根据权利要求1所述的一种集成电路芯片测试定位装置，其特征在于：所述弹簧(16)的一端与相邻位置固定筒(13)的内壁相固定，所述弹簧(16)的另一端与相邻位置固定环(15)顶部的表面相固定。

4.根据权利要求1所述的一种集成电路芯片测试定位装置，其特征在于：所述定位板(1)顶部表面的两侧开设有三个限位槽(4)，所述限位槽(4)的内部固定有固定轴(5)，所述固定轴(5)的外周面滑动套设有第一限位套(6)，所述第一限位套(6)的顶部穿过相邻位置限位槽(4)并与相邻位置运动座(2)的表面相固定。

5.根据权利要求4所述的一种集成电路芯片测试定位装置，其特征在于：其中两个所述固定轴(5)的外周面均匀开设有第二插槽(21)，所述运动座(2)顶部的另一侧贯穿螺纹连接有螺栓(22)，所述螺栓(22)的底部延伸至相邻位置第二插槽(21)的内部。

6.根据权利要求2所述的一种集成电路芯片测试定位装置，其特征在于：所述固定杆(18)的外周面滑动套设有第二限位套(20)，所述第二限位套(20)的顶部穿过相邻位置置物槽(17)并与相邻位置活动杆(12)底部的表面相固定，所述插杆(14)的底部依次穿过相邻位置活动杆(12)、第一插槽(19)以及第二限位套(20)的中间位置处。