[实用新型]一种8080接口转SPI测试系统

说明书

本实用新型公开一种8080接口转SPI测试系统，包括：MCU模块和与所述MCU模块电性连接的8080转SPI模块；所述MCU模块用于通过8080接口发送数据给所述8080转SPI模块；所述8080转SPI模块用于接收所述MCU模块的数据并通过SPI或QSPI时序驱动点亮显示模组。本实用新型的有益效果在于：可以在改动测试系统很小的情况下，加入8080转SPI模块，成倍提升送图效率，大大提高了SPI接口、QSPI接口的显示模组生产测试效率。

技术领域

本实用新型涉及显示模组技术领域，尤其涉及一种8080接口转SPI测试系统。

背景技术

在显示模组中，需要点亮显示模组显示特定的图像来对显示模组进行测试，现有技术中，遇到SPI接口、QSPI接口的显示模组时，在测试时，通过测试系统的MCU的硬件SPI接口或QSPI接口传送相应的数据给显示模组，由于硬件速度限制、走线干扰、电磁干扰等问题，数据传输速度难以提升，导致刷图过慢，严重影响生产测试的效率。

因此，现有技术存在缺陷，需要改进。

实用新型内容

本实用新型的目的是克服现有技术的不足，提供一种8080接口转SPI 测试系统。

本实用新型的技术方案如下：本实用新型提供一种8080接口转SPI测试系统，包括：MCU模块和与所述MCU模块电性连接的8080转SPI模块；所述MCU模块用于通过8080接口发送数据给所述8080转SPI模块；所述 8080转SPI模块用于接收所述MCU模块的数据并通过SPI或QSPI时序驱动点亮显示模组。

进一步地，所述8080转SPI模块包括FPGA(可编程逻辑阵列)。

采用上述方案，本实用新型的有益效果在于：可以在改动测试系统很小的情况下，加入8080转SPI模块，成倍提升送图效率，大大提高了SPI 接口、QSPI接口的显示模组生产测试效率。

附图说明

图1为本实用新型一实施例的结构框图。

具体实施方式

以下结合附图和具体实施例，对本实用新型进行详细说明。

请参阅图1，在本实施例中，本实用新型提供一种8080接口转SPI测试系统，包括：MCU模块和与所述MCU模块电性连接的8080转SPI模块；所述MCU模块用于通过8080接口发送数据给所述8080转SPI模块；所述 8080转SPI模块用于接收所述MCU模块的数据并通过SPI或QSPI时序驱动点亮显示模组。

进一步地，所述8080转SPI模块包括FPGA(可编程逻辑阵列)。

请继续参阅图1，在本方案中，通过增加8080转SPI模块，在工作时， MCU模块通过输出8080并行时序将数据发送给所述8080转SPI模块，再通过所述8080转SPI模块通过SPI或者QSPI时序来点亮电视模组，可以将原来的MCU的模块的串行时序输出变为并行时序输出，传输给速度更快的FPGA，通过通信协议，再转为对应的串行时序输出，相比现有做法，可以提升4到8倍的速率。

综上所述，本实用新型的有益效果在于：可以在改动测试系统很小的情况下，加入8080转SPI模块，成倍提升送图效率，大大提高了SPI接口、 QSPI接口的显示模组生产测试效率。

以上仅为本实用新型的较佳实施例而已，并不用于限制本实用新型，凡在本实用新型的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。